[发明专利]内阻抗检测设备、内阻抗检测方法、退化程度检测设备和退化程度检测方法有效
| 申请号： | 200580028606.5 | 申请日： | 2005-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN101010596A | 公开（公告）日： | 2007-08-01 |
| 发明（设计）人： | 石井光德 | 申请（专利权）人： | 日本电气株式会社;富士重工业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/36 | 分类号： | G01R31/36 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙志湧;陆锦华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 阻抗 检测 设备 方法 退化 程度 | ||
【权利要求书】：
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