[发明专利]电解电容器用电解液及使用其的电解电容器

说明书

技术领域

本发明涉及具备在表面形成有导电性高分子层的导电性隔膜的电解电容器所用的电解电容器用电解液及使用其的电解电容器。

背景技术

伴随着各种电子机器的高频化，要求提供在高频区域中的等效串联电阻(以下也称作ESR)特性方面优良的大容量的电解电容器。

近年来，作为所述电解电容器，提出了将表面形成有导电性高分子层的导电性隔膜配置于一对电极间的构造的电解电容器。

例如，在以下的专利文献1中，提出了通过将电解电容器的隔膜用导电性高分子来导电化而改良电解电容器的ESR特性的方案。

另一方面，以往开发过用于改善电解电容器的能量损失或ESR特性的电解电容器用电解液(以下也简称为电解液)。作为所述电解液，提出过电导率高的电解液，具体来说，例如提出过像以下的专利文献2中记载那样的以具有烷基取代脒基的化合物的四级化物的羧酸盐为电解质的所谓脒类电解液等。但是，如果仅使用所述电导率高的电解液，则在改善所述ESR特性等方面仍然不充分。

所以，为了进一步改善电解电容器的能量损失或ESR特性，虽然尝试过在专利文献1中所记载那样的通过将隔膜利用导电性高分子来导电化而改良了ESR特性的电解电容器中，使用专利文献2中所记载的那样的脒类电解液等的做法，然而产生了电解电容器的ESR增加的问题。

专利文献1：特开平1-90517号公报

专利文献2：国际公开第95/15572号小册子

发明内容

本发明人等认为，在具备导电性隔膜的电解电容器中所产生的伴随着时间推移的ESR的增加是由以下情况引起的，即，伴随着在电解液中从含有掺杂剂的导电性高分子层中掺杂剂慢慢地脱出(所谓的去掺杂现象)，导电性高分子老化，导电性高分子层的电导率慢慢地降低，本发明人等发现利用以下的途径可以解决所述问题。

即，本发明的第一电解电容器用电解液是将下述电容器元件内置于壳体中而成的电解电容器中所用的电解电容器用电解液，所述电容器元件是夹隔表面形成有含掺杂剂(H)的导电性高分子层(F)的隔膜(E)而卷绕一对电极对，使电解液浸渗到所述电极对之间而形成的，其中，在所述电解电容器用电解液所含的电解质成分中的酸成分(D)和碱成分(C)以摩尔比相比，酸成分(D)过剩，在所述电解电容器用电解液中作为抗氧化剂含有选自苯酚、甲基苯酚、乙基苯酚、焦酚、对苯二酚、邻苯二酚、生育酚、丁基羟基苯甲醚、二丁基羟基甲苯和苯并三唑中的至少1种。

另外，本发明的电解电容器是将下述电容器元件内置于壳体中而成的电解电容器，所述电容器元件是夹隔表面形成有含掺杂剂(H)的导电性高分子层(F)的隔膜(E)而卷绕一对电极对，使电解电容器用电解液浸渗到所述电极对之间而形成的，其中，其使用所述电解电容器用电解液。

另外，本发明的第二电解电容器用电解液是将下述电容器元件内置于壳体中而成的电解电容器中所用的电解电容器用电解液，所述电容器元件是夹隔表面形成有含p型掺杂剂(H’)的p型掺杂导电性高分子层(F’)的隔膜(E’)而卷绕具有阳极氧化箔和阴极箔的一对电极对，使电解电容器用电解液浸渗到所述电极对之间而形成的，其中，含有通过下述测定方法测定的还原电位为-1.6～0V的成分(A0)，该成分(A0)为选自过安息香酸、单过酞酸、二甲基乙基铵盐、二乙基甲基铵盐、均苯三酸、p-苯醌中的至少一种。

所述还原电位的测定方法为：在作为支持电解质溶解了0.23摩尔/L的四氟硼酸四乙基铵盐的γ-丁内酯中，以0.1摩尔/L的浓度溶解成分(A0)，根据对流循环伏安测定法，作为工作电极使用玻碳电极(φ1.0mm)、作为参考电极使用(Ag/Ag⁺)电极、作为对电极使用铂电极，测定电流为-0.2μA时的电位。

此外，本发明的电解电容器是将下述电容器元件内置于壳体中而成的电解电容器，所述电容器元件是夹隔表面形成有含p型掺杂剂(H’)的p型掺杂导电性高分子层(F’)的隔膜(E’)而卷绕具有阳极氧化箔和阴极箔的一对电极对，使电解电容器用电解液浸渗到所述电极对之间而形成的，其中，其使用第二电解电容器用电解液。

附图说明

图1是表示本发明的一个实施方式的电解电容器的构成的局部剖面立体图。

图2是表示本发明的一个实施方式的电解电容器元件的构成的概念图。

具体实施方式

使用图1对本发明的电解电容器用电解液及使用了它的电解电容器的实施方式进行说明。

图1是表示本发明的电解电容器的构成的一个例子的局部剖面立体图。