[发明专利]观察纳米级样品的光学部件、包含该部件的系统、使用该部件的分析方法及其应用无效
| 申请号： | 200580029959.7 | 申请日： | 2005-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN101031789A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 多米尼克·奥塞尔 | 申请（专利权）人： | 孔布雷电子公司－SELCO |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 于辉 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 观察 纳米 样品 光学 部件 包含 系统 使用 分析 方法 及其 应用 | ||
【权利要求书】：
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