[发明专利]发光器件有效

专利信息
申请号: 200580038303.1 申请日: 2005-11-09
公开(公告)号: CN101057333A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 田透;岩崎达哉;细野秀雄;神谷利夫;野村研二 申请(专利权)人: 佳能株式会社;国立大学法人东京工业大学
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L29/786
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 发光 器件
【权利要求书】:

1.一种发光器件,具有包括第一电极和第二电极及位于所述第 一电极和第二电极之间的发光层的发光元件、以及用于驱动所述发光 元件的场效应晶体管,其特征在于:

所述场效应晶体管的有源层包括非晶氧化物,所述非晶氧化物在 含氧气氛中被形成或在含氧气氛中被后处理以在从0℃至40℃的范围 的至少一部分中具有小于1018/cm3的电子载流子浓度,并且所述非晶 氧化物具有随电子载流子浓度的增加而增加的电子迁移率;

所述非晶氧化物至少包含In、Zn和Sn中的一种;以及

当不施加栅电压时,所述场效应晶体管在源电极和漏电极之间提 供小于10微安的电流。

2.根据权利要求1所述的发光器件,其特征在于:所述发光元 件和所述场效应晶体管被设置于光学透明的衬底上,从所述发光层发 射的光通过所述衬底输出;以及

所述非晶氧化物包含In、Zn和Ga。

3.根据权利要求2所述的发光器件,其特征在于:所述场效应 晶体管设置在所述衬底与所述发光层之间。

4.根据权利要求1所述的发光器件,其特征在于:所述发光元 件和所述场效应晶体管设置在光学透明的衬底上,从所述发光层发射 的光通过所述衬底和所述非晶氧化物输出;以及

所述非晶氧化物包含In、Zn和Ga。

5.根据权利要求4所述的发光器件,其特征在于:所述场效应 晶体管设置在所述衬底和所述发光层之间。

6.根据权利要求1所述的发光器件,其特征在于:所述场效应 晶体管的漏电极和第二电极中的至少一个由光学透明导电氧化物形 成;以及

所述非晶氧化物包含In、Zn和Ga。

7.根据权利要求1所述的发光器件,其特征在于:所述发光元 件是电致发光元件;

所述非晶氧化物包含In、Zn和Ga;以及

所述非晶氧化物在X射线衍射光谱中展示出光晕图案而不展示出 特征衍射线。

8.根据权利要求1所述的发光器件,其特征在于:多个所述发 光元件至少被设置在一行上;以及

所述非晶氧化物包含In、Zn和Ga。

9.根据权利要求8所述的发光器件,其特征在于:设置所述发 光元件,使所述发光元件与所述场效应晶体管相邻。

10.一种电子照相装置,具有

感光器,

为该感光器供电的供电器,

曝光光源,用于曝光该感光器以在该感光器上形成潜像,以及

用于显影该潜像的显影单元;

其特征在于:

所述曝光光源具有如权利要求8所述的发光器件。

11.一种发光器件,具有包括第一电极和第二电极及位于第一电 极和第二电极之间的发光层的发光元件、和用于驱动该发光元件的场 效应晶体管,其特征在于:

所述场效应晶体管的有源层包括使得能够实现正常截止状态的 透明非晶氧化物半导体,所述透明非晶氧化物半导体在含氧气氛中被 形成或在含氧气氛中被后处理以在从0℃至40℃的范围的至少一部分 中具有小于1018/cm3的电子载流子浓度,并且所述透明非晶氧化物半 导体具有随电子载流子浓度的增加而增加的电子迁移率;

所述透明非晶氧化物半导体至少包含In、Zn和Sn中的一种; 以及

当不施加栅电压时,所述场效应晶体管在源电极和漏电极之间提 供小于10微安的电流。

12.根据权利要求11所述的发光器件,其特征在于:所述透明 非晶氧化物半导体具有对于实现正常截止状态是充分小的、小于 1018/cm3的电子载流子浓度;以及

所述透明非晶氧化物半导体在X射线衍射光谱中展示出光晕图案 而不展示出特征衍射线。

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