[发明专利]能量分辨的计算机X射线断层扫描

权利要求书

1、一种用于检查所关心物体的计算机X射线断层扫描装置，所述计算机X射线断层扫描装置包括：

电磁辐射的旋转源(4)，在旋转面旋转并将电磁辐射束发送到所关心的物体(7)；

第一探测元件，适用于探测具有第一能量间隔内的第一能量的从所述所关心的物体(7)的第一目标点(244)相干散射的电磁辐射；

第二探测元件，适用于探测具有第二能量间隔内的第二能量的从所述所关心的物体(7)的第二目标点(245)相干散射的电磁辐射；

其中，所述第一探测元件被设置在距离所述旋转面第一距离处，所述第二探测元件被设置在距离所述旋转面第二距离处，所述第一距离实质上等于所述第二距离；以及

其中，所述第一能量间隔不同于所述第二能量间隔。

2、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，其中所述第一目标点(244)和所述第二目标点(245)位于垂直于所述电磁辐射束的中间射线的直线上。

3、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，

其中所述第一能量间隔是所述中间射线和从所述源(4)发射到所述第一目标点(244)的射线间的第一扇形角的预定函数；以及

其中所述第二能量间隔是所述中间射线和从所述源(4)发射到所述第二目标点(245)的射线间的第二扇形角的预定函数。

4、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，进一步包括数据处理器，其中所述数据处理器(151)适用于执行以下步骤：

对每个探测元件在一能量上进行线性采样；以及

施加所述束变为平行束形状的平行束重排，从而不需插值得到每个探测器元件的所述探测辐射的动量转移的等距采样。

5、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，

其中，所述第一探测元件和所述第二探测元件是辐射探测器的一部分；以及

其中，所述辐射探测器是距离所述旋转面固定距离处的中心聚焦的单排能量分辨探测器和距离所述旋转面固定距离处的平面单排能量分辨探测器中的一种。

6、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，

其中，所述电磁辐射源(4)是多色x射线源；

其中，所述源(4)沿围绕所述所关心的物体(7)的螺旋路径移动；以及

其中所述束具有扇形束形状。

7、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，可适用作相干散射计算机X射线断层扫描装置。

8、如权利要求1所述的计算机X射线断层扫描装置，被配置为包括包裹检查装置、医学应用装置、材料测试装置以及材料科学分析装置的组合中的一种。

9、一种辐射探测器，包括：

第一探测元件，适用于探测从电磁辐射源(4)发射的具有第一能量间隔内的第一能量的且从所关心的物体(7)的第一目标点(244)相干散射的电磁辐射；

第二探测元件，适用于探测从电磁辐射源(4)发射的具有第二能量间隔内的第二能量的且从所关心的物体(7)的第二目标点(245)相干散射的电磁辐射；

其中，所述第一探测元件被设置在距离所述旋转面第一距离处，所述第二探测元件被设置在距离所述旋转面第二距离处，所述第一距离实质上等于所述第二距离；以及

其中，所述第一能量间隔不同于所述第二能量间隔。

10、如权利要求9所述的辐射探测器，

其中，所述第一目标点(244)和所述第二目标点(245)位于与所述电磁辐射束的中间射线垂直的直线上；

其中所述第一能量间隔是所述中间射线和从所述源(4)发射到所述第一目标点(244)的射线间的第一扇形角的预定函数；以及

其中所述第二能量间隔是所述中间射线和从所述源(4)发射到所述第二目标点(245)的射线间的第二扇形角的预定函数。

11、如权利要求9所述的辐射探测器，对每个探测元件在一能量上进行线性采样以及施加所述束变为平行束形状的平行束重排，使得不需插值得到每个探测器元件的所述探测辐射的动量转移的等距采样。

12、如权利要求9所述的辐射探测器，其中，所述辐射探测器是距离所述旋转面固定距离处的中心聚焦的单排能量分辨探测器和平面单排能量分辨探测器中的一种。