[发明专利]用于定位成像用微球的方法和系统无效
申请号: | 200580038811.X | 申请日: | 2005-11-09 |
公开(公告)号: | CN101072992A | 公开(公告)日: | 2007-11-14 |
发明(设计)人: | P·彭佩塞尔 | 申请(专利权)人: | 卢米尼克斯股份有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N1/28;G01N33/487;A61M1/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈炜 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 定位 成像 用微球 方法 系统 | ||
1.一种被配置成定位成像用微球的系统,包括:
过滤介质,它包括在所述过滤介质上以基本上等距的形式分隔开的多个开口;以及
耦合到所述过滤介质的流动子系统,其中所述流动子系统被配置成对微球施加力从而使所述微球被定位于所述开口之上。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述流动子系统还被配置成经由吸力辅助过滤施加所述力。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述开口的直径比所述微球的直径小。
4.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述开口的直径比所述过滤介质的细孔的直径大。
5.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述过滤介质中所述开口的数量近似地等于要定位的所述微球的数量。
6.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述过滤介质中所述开口的数量比所述微球的数量多或少。
7.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述开口在所述过滤介质的整个厚度上延伸。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述开口在所述过滤介质的厚度的一部分上延伸。
9.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括耦合到所述过滤介质的附加过滤介质,其中所述流动子系统还被配置成通过所述附加过滤介质对所述微球施加所述力。
10.如权利要求1所述的系统,其特征在于,当所述微球被定位于所述开口之上时,所述微球与溶液接触。
11.如权利要求1所述的系统,其特征在于,当所述微球被定位于所述开口之上时,所述微球不与溶液接触。
12.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时对所述微球进行成像,其中所述过滤介质与所述微球接触的表面靠近所述成像子系统的成像平面。
13.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时对所述微球进行成像,其中所述过滤介质与所述微球接触的表面基本上平行于所述成像子系统的成像平面。
14.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时,通过所述过滤介质对所述微球进行成像。
15.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时,使用多次曝光来对所述微球进行成像。
16.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时对所述微球进行成像,其中所述成像子系统包括电荷耦合器件。
17.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时对所述微球进行成像,其中所述成像子系统包括成像装置。
18.如权利要求1所述的系统,其特征在于,还包括成像子系统,它被配置成当所述微球被定位于所述开口之上时对所述微球进行成像,其中由所述成像子系统生成的图像可被用于基于小球或基于细胞的诊断测试。
19.一种用于定位成像用微球的方法,包括通过过滤介质对所述微球施加力从而使所述微球被定位于所述过滤介质中的开口之上,其中所述开口在所述过滤介质上以近似等距的形式分隔开。
20.如权利要求19所述的方法,其特征在于,所述施加通过使用吸力辅助过滤来执行。
21.如权利要求19所述的方法,其特征在于,所述开口的直径比所述微球的直径小。
22.如权利要求19所述的方法,其特征在于,所述开口的直径比所述过滤介质的细孔的直径大。
23.如权利要求19所述的方法,其特征在于,所述过滤介质中所述开口的数量近似地等于所述微球的数量。
24.如权利要求19所述的方法,其特征在于,所述开口在所述过滤介质的整个厚度上延伸。
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