[发明专利]氮化物半导体LED及其制造方法有效
申请号: | 200580039804.1 | 申请日: | 2005-07-06 |
公开(公告)号: | CN101208809A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 李昔宪 | 申请(专利权)人: | LG伊诺特有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾晋伟;刘继富 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 led 及其 制造 方法 | ||
1.一种氮化物半导体发光二极管,包含:
衬底;
形成在所述衬底上的缓冲层;
形成在所述缓冲层上的In-掺杂的GaN层;
形成在所述In-掺杂的GaN层上的第一电极层;
形成在所述第一电极层上的InxGa1-xN层;
形成在所述InxGa1-xN层上的有源层;
形成在所述有源层上的第一P-GaN层;
形成在所述第一P-GaN层上的第二电极层;
部分突出在所述第二电极层上的第二P-GaN层;和
形成在所述第二P-GaN层上的第三电极层。
2.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中利用AlInN/GaN分层结构、InGaN/GaN超晶格结构、InxGa1-xN/GaN分层结构和AlxInyGa1-(x+y)N/InxGa1-xN/GaN分层结构中的所选其一来形成所述缓冲层。
3.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中所述第一电极层是硅和铟共掺杂的GaN层。
4.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中在所述InxGa1-xN层之下和之上还分别形成第一SiNx簇层和第二SiNx簇层。
5.根据权利要求4的氮化物半导体发光二极管,其中所述第一和第二SiNx簇层形成为具有原子尺度的厚度。
6.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中所述有源层具有单量子阱结构或由InyGa1-yN阱层/InzGa1-zN势垒层构成的多量子阱结构。
7.根据权利要求5的氮化物半导体发光二极管,其中还在构成所述有源层的所述阱层和所述势垒层之间形成SiNx簇层。
8.根据权利要求6的氮化物半导体发光二极管,其中还在构成所述有源层的所述InyGa1-yN阱层和所述InzGa1-zN势垒层之间形成SiNx簇层。
9.根据权利要求6的氮化物半导体发光二极管,其中还在构成所述有源层的所述InyGa1-yN阱层和所述InzGa1-zN势垒层之间形成GaN覆盖层。
10.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中还在所述有源层和所述第一P-GaN层之间形成SiNx簇层。
11.根据权利要求7的氮化物半导体发光二极管,其中所述SiNx簇层形成为具有原子尺度的厚度。
12.根据权利要求8的氮化物半导体发光二极管,其中所述SiNx簇层形成为具有原子尺度的厚度。
13.根据权利要求10的氮化物半导体发光二极管,其中所述SiNx簇层形成为具有原子尺度的厚度。
14.根据权利要求6的氮化物半导体发光二极管,其中掺杂到所述InyGa1-yN阱层/所述InzGa1-zN势垒层的铟含量和掺杂到所述InxGa1-xN层中的铟含量分别具有0<x<0.1、0<y<0.35和0<z<0.1的值。
15.根据权利要求1的氮化物半导体发光二极管,其中所述第一P-GaN层具有掺杂在其中的镁(Mg)。
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