[发明专利]光学信息载体

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学信息载体，其包括用于包含信息的数据层、接收用于读取信息的光束的外表面、和用于将光束传送给数据层的透明层，该透明层包括用于使光束变形的变形图案，该图案包括附加信息。

本发明还涉及一种用于制造光学信息载体的方法。

本发明还涉及一种用于从光学信息载体读取信息的装置。

背景技术

通过涉及发布的内容工业经由音乐、软件程序和视频的光学介质已经做出了许多努力，来防止未授权拷贝光学存储介质的内容。软件解决方案以及硬件解决方案已经用于这个目的。大多解决方案限制未授权拷贝的数量，但能够很容易地被黑客避开。

先前所述的硬件解决方案之一是美国专利US5572589中所披露的对光盘的一部分物理损坏的有意引进。该专利披露了一种光盘和物理损坏轨迹或扇区。将激光用于选择地损坏轨迹或使用一个锋利的工具来刮擦盘表面。损坏的部分形成一个表示盘的识别值的图案。在盘表面处，光束的直径相对较大。随着光束通过透明层，光束变得较小。在盘上的小刮擦只会使光束的相对小的一部分变形并且难于检测。为了施加能够通过读取装置检测的物理损坏，物理损坏由此必须相对较大。根据US5572589的光盘的缺点是由于相对较大的物理损坏，附加信息的数据密度相对较低。另外，黑客可使用尖锐的工具产生包括外表面物理损坏的信息载体的拷贝。

发明内容

本发明的目的是提供一种具有变形的图案的光学信息载体，该图案包括具有高数据密度的附加数据。

根据本发明，提供一种如开头段落中所述的光学信息载体，其中该变形被嵌入在透明层中，即在外表面和数据层之间的深度处。

变形例如是气泡或空腔，其可引发指数(index)调制或双折射。因为变形被嵌入在基底中，所以它们比盘表面的物理损坏更靠近数据层，并且不会如现有技术中所披露的损坏数据轨迹本身。因此能够使用相对小的变形，从而能够实现具有更高附加数据密度的可靠图案。

根据本发明的信息载体的优点在于变形比现有盘中的物理损坏更难于改变或拷贝。尤其是当损坏相对较大并能以机械方式施加时，对信息载体的外表面添加损坏相对容易。为了对透明层的内部结构施加较小的变形，需要特殊的设备。

在根据本发明的光学信息载体的一个有利实施例中，信息的至少一部分被锁定并且图案构成用于解开锁定信息的至少一部分的密钥。锁定信息可例如通过密码被保护或使用加密技术(例如，PGP)进行加密。密钥由此可以是使(或允许)读取装置开始从数据层提取信息的密码或者可以是用于解密加密信息所需的。即使黑客不管变形如何都可以成功地将信息拷贝到另一个信息载体的数据层上，他将不能拷贝密钥并且复制品将是无用的。

数据层上的信息可以包括当运行时询问密钥的软件应用。当软件应用指示读取装置读取密钥并且没有发现正确的密钥时，(部分)数据是不可访问的。

在根据本发明的光学信息载体的一个实施例中，图案包括在至少两个不同深处嵌入在外表面和数据层之间的透明层中的变形。当将变形嵌入在透明层中的不同深度处时，将甚至更难于拷贝包括变形的信息载体。不同的层可被用于包括不同的密钥。例如，需要两个不同的密钥来解开锁定信息或者需要不同的密钥来解开数据层上的信息的不同部分。

变形可被实现为不同类型的变形，每种类型的变形都能以不同的方式使光束局部变形。例如，一些变形可使得读取装置的光检测单元检测在盘表面处的光束的总反射的变化。可选择地，特定类型的变形可对自动增益控制、聚焦误差或跟踪误差信号产生较小的变化，该变化可由读取装置检测。

本发明还涉及一种用于从根据本发明的光学信息载体读取信息的装置，该装置包括光检测单元，用于从光束获得信息，该光检测单元被布置用于分析在光检测单元上的光强度分布，以检测嵌入的变形。透明层中的变形对用于读取信息的光束进行局部变形。透明层中的变形使得它们的存在可从光束的强度图案推出。例如，光检测单元可检测代表数据层上的信息的正常数据块的图案和代表透明层中的变形的错误块。从该图案可推测出用于解开部分数据的密钥。

当软件应用请求密钥时，该应用指示读取装置从预期有密钥的信息载体部分读取数据。从由光检测单元测量的光束强度图案，可以推测出在信息载体中是否存在密钥。软件应用可例如查找特定的错误数据块。如果该装置被布置用于提供相关的信号并且该相关信号被编码在变形中，则聚焦误差信号、跟踪误差信号或自动增益控制信号也可包括密钥。

本发明还涉及一种用于制造根据本发明的光学信息载体的方法，其包括在外表面和数据层之间的一个深度将变形图案嵌入到信息载体的透明层中的步骤。