[发明专利]用于执行测试器工具模块的安装和配置管理的方法和系统

说明书

相关申请案的交叉参考

本申请案主张2004年12月9日申请的第60/635,094号美国临时申请案“Method andSystem for Performing Installation and Configuration Management of Tester InstrumentModules”的优先权，该申请案让渡给本申请案的受让人，且其全文以引用的方式并入本文中。

技术领域

本发明涉及测试集成电路的领域。确切地说，本发明涉及一种用于执行测试器工具模块的安装和配置管理的方法和系统。

背景技术

测试设备之所以具有较高成本，一个主要原因在于常规测试器架构的专用性质。每个测试器制造商具有许多测试器平台，其不但在例如Advantest、Teradyne和Agilent等公司之间互不兼容，而且在公司内部的平台(例如Advantest制造的T3300、T5500和T6600系列测试器)之间也不兼容。由于这些不兼容性，每个测试器均需要其自身的专用硬件和软件组件，且这些专用硬件和软件组件无法在其它测试器上使用。此外，将测试程序从一个测试器转移到另一个测试器上以及开发第三方解决方案，需要付出大量精力。即使针对一个平台开发出第三方解决方案，也无法将这个第三方解决方案转移到不同平台上或在不同平台上重新使用。从一个平台到另一平台的转译过程一般较为复杂且容易发生错误，从而导致付出额外的精力、时间且测试成本增加。

专用测试器架构的另一问题在于，所有硬件和软件对于给定测试器来说始终保持固定的配置。为了测试被测装置(device-under-test，DUT)或IC，开发出一种专用测试程序，其使用测试器能力中的一些或所有能力来定义测试数据、信号、波形和电流及电压电平，并且收集DUT响应且判断DUT是通过还是未通过测试。

开放式架构测试系统为传统测试系统的上述问题提供了解决方案。第10/772,434号美国申请案“Method and Structure to Develop a Test Program for Semiconductor IntegratedCircuits”中描述了开放式架构测试系统的一实例，该申请案的全文以引用的方式并入本文中。所述开放式架构测试系统可经配置以支持多种卖方硬件测试模块及其相应的DUT。

发明内容

然而，实施此种开放式架构测试系统的一个难题是，可能存在多个版本的测试器操作系统(TOS)。此外，每个卖方硬件测试模块可能具有多个版本，且卖方硬件测试模块的每个版本可能具有其相应的软件组件的版本。测试器操作系统、卖方硬件测试模块和软件组件的版本需要无缝协作，以便在卖方硬件测试模块上运行测试。因此，需要这样一种模块化测试系统，其能够管理多个卖方硬件测试模块版本、软件组件版本和TOS版本，以便使用多种卖方硬件测试模块来测试DUT。

在一个实施例中，一种用于管理模块化测试系统中的多个硬件测试模块版本、软件组件和测试器操作系统(TOS)版本的方法包含：将与所述模块化测试系统兼容的TOS版本安装在档案中，和将对应于所述硬件测试模块版本的卖方软件组件安装在所述档案中。所述方法进一步包含：创建用于描述对应于所述硬件测试模块版本和所述TOS版本的卖方软件组件的系统简档；为所述模块化测试系统选择系统简档，其中所述系统简档包含一组兼容的卖方软件组件和用于测试特定硬件测试模块版本的选定TOS；和激活所述模块化测试系统上的所述选定TOS。

在另一实施例中，一种用于管理多个硬件测试模块版本、软件组件和测试器操作系统(TOS)版本的系统包含：系统控制器，其用于控制至少一个现场控制器；至少一个现场控制器，其用于控制至少一个硬件测试模块；与模块化测试系统兼容的测试操作系统版本；对应于硬件测试模块版本的卖方软件组件；和用于描述对应于硬件测试模块版本和TOS版本的卖方软件组件的系统简档。

附图说明

结合以下附图阅读对本发明实施例的详细描述之后，将可更清楚地理解本发明的上述特征和优点以及本发明的其它特征和优点。

图1a说明根据本发明实施例的开放式架构测试系统。

图1b说明根据本发明实施例的用于管理模块化测试系统中的多个硬件测试模块版本、软件组件和TOS版本的方法。

图2a说明根据本发明实施例的TOS控制和工厂默认目录结构。

图2b说明根据本发明实施例的开放式架构测试系统的状态图。

图3说明根据本发明实施例的TOS安装目录结构。