[发明专利]半导体集成电路和半导体器件以及光盘记录装置

权利要求书

1.一种半导体集成电路，特征在于，包括：

第一信号处理电路，其具有第一电容器，第一电容器被连接到输出部分；

第二信号处理电路，其与所述第一信号处理电路并排设置；

选择开关，其选择并输出所述第一信号处理电路的输出和所述第二信号处理电路的输出；

缓冲器电路，其输入所述选择开关的输出；以及

放大器，其被设置在所述缓冲器电路的后级，至少具有第一和第二电阻。

2.如权利要求1所述的半导体集成电路，特征在于，所述第二信号处理电路还具有第二电容器，所述第二电容器被连接到输出部分。

3.如权利要求1或2所述的半导体集成电路，特征在于，所述第一信号处理电路是采样保持电路。

4.如权利要求1至3任何一项所述的半导体集成电路，特征在于，所述选择开关是模拟开关。

5.如权利要求1至4任何一项所述的半导体集成电路，特征在于，所述第二信号处理电路是低通滤波器。

6.一种半导体集成电路，特征在于，包括：

采样保持电路和低通滤波器，其将来自用于测量光盘反射光的光电二极管的检测电流变换成电压，并且输入所述被变换过的电压；

选择开关，其选择并输出所述采样保持电路的输出和所述低通滤波器的输出；

缓冲器电路，其输入所述选择开关的输出；以及

放大器，其被设置在所述缓冲器电路的后级，至少具有第一和第二电阻，

所述采样保持电路和所述低通滤波器被并排设置，根据对所述光盘的写入速度进行所述选择开关的控制。

7.一种半导体器件，其特征在于，包括权利要求1至6任何一项所述的半导体集成电路。

8.一种光盘记录装置，特征在于，包括权利要求7所述的半导体器件，根据来自用于测量激光发射光的光电二极管和用于测量光盘反射光的光电二极管的输出而设定用于驱动激光二极管的最佳值，以及在对光盘进行写入时，通过比较所述被设定的最佳值和由用于测量所述光盘反射光的光电二极管所测量的测量值而调整从激光二极管发射的激光的强度。