[发明专利]用于测量涂膜的粗糙度的方法和装置无效
申请号: | 200580042756.1 | 申请日: | 2005-12-13 |
公开(公告)号: | CN101076833A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | S·L·恩乔 | 申请(专利权)人: | 阿克佐诺贝尔国际涂料股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/40 | 分类号: | G06T7/40;G01J3/51;G01J3/46 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 荷兰*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测量 粗糙 方法 装置 | ||
1.一种用于通过测量装置分析包含效应颜料的涂膜的视觉粗糙度的方法,该测量装置包含具有反射内壁和样品开口的腔,所述装置还包括:照明装置,用于照明所述腔;和数字成像装置,其从所述腔朝向所述样品开口、并且被设置为离所述样品开口的中心法线有一个距离,其中,启动所述成像装置,以记录经所述样品开口提供的涂膜的样品的数字图像文件,该图像文件包括每个像素的反射数据,其特征在于,将所述数字图像传输到编程的数据处理单元,以基于所述每个像素的反射数据之间的差计算粗糙度值。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,使用将计算得到的值与通过视觉判断确定的值相互关联的模型,利用最小二乘法法计算所述粗糙度值。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,将所述成像装置的光轴设置为与所述样品开口的中心法线成3至12度的角度,优选成6至10度的角度。
4.根据上述权利要求中的任意一项权利要求所述的方法,其特征在于,使用比所述样品开口大的样品,并且,在所述成像装置启动期间,所述样品闭合所述样品开口。
5.一种根据权利要求1至4中的任意一项的方法的分析产品表面的光学特性的装置,所述产品表面例如是包含效应颜料的涂膜,其特征在于,所述装置包括编程的数据处理单元,以基于每个像素的反射数据之间的差计算粗糙度值。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述开口共占小于9%的所述腔的内表面。
7.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述成像装置的光轴被设置成与所述样品开口的中心法线成3至12度的角度。
8.根据权利要求5至7中的任意一项权利要求所述的装置,其特征在于,所述腔是球形的。
9.根据权利要求5至8中的任意一项权利要求所述的装置,其特征在于,所述腔的壁是白色的。
10.根据权利要求5至9中的任意一项权利要求所述的装置,其特征在于,所述成像装置是CCD相机。
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