[发明专利]用于连续探测器修正的脉冲X射线

权利要求书

1.一种X射线照相成像设备(10)，其包括：

第一辐射源(14)，其将辐射束投射到设置对象(28)以用于检 查的检查区域(16)中；

其特征在于：探测器(18)，其探测穿过检查区域(16)的辐射 并将所探测的辐射转换成电的探测器信号，该探测器信号表示所探测 的辐射和探测器的至少一个在时间上变化的特性，其中探测器(18) 包括X射线至模拟信号转换层(22)，该转换层包括与光电二极管阵 列(26)耦合的闪烁体(24)或者包括直接转换半导体；

修正装置(38)，其用于确定对探测器信号的修正值以便在探测 器信号的产生过程中多次补偿探测器的至少一个在时间上变化的特 性，并且用该确定的修正值来修正探测器信号，其中变化的特性是偏 移B(t)，并且所述修正装置(38)包括用于测量探测器(18)的偏 移B(t)的偏移装置(84)；以及

用于快速发脉冲给第一辐射源(14)的栅极脉冲装置(64)，在 第一辐射源的打开时间t₁和第一辐射源的关闭时间t₂期间所述偏移 B(t)保持基本恒定，该偏移装置(84)在第一辐射源的关闭时间t₂测量偏移值B₂，该偏移值B₂等于在关闭时间t₂期间的信号值S₂，其 中栅极脉冲装置(64)以每秒在1000到5000个脉冲之间的速率将第 一辐射源(14)打开和关闭，使得在每秒1000到5000次之间对偏移 B(t)进行重新测量。

2.如权利要求1中所述的设备，其中修正装置(38)通过从所 探测的探测器信号减去所测量的偏移值B₂来修正所探测的探测器信 号：

Sc₁＝A₁X₁-B₂，其中

Sc₁是在时间t₁期间的修正信号；

A₁是在时间t₁期间的探测器(18)的增益；

X₁是在时间t₁期间入射到探测器(18)上的X射线强度；

B₂是在时间t₂期间探测器(18)的测量偏移值。

3.如权利要求1所述的设备，进一步包括：

用于激发探测器(18)的恒定强度X_Ref的第二受脉冲作用的源 (86，100，138)；以及

用于快速发脉冲给第二受脉冲作用的源(86，100，138)的第二脉 冲装置(88)。

4.如权利要求3中所述的设备，其中修正装置(38)进一步包 括：

用于确定探测器(18)的校准增益A_Cal的校准装置(92)，该校 准增益A_Cal是关于信号S_A和信号S_B的强度被确定的，其中信号S_A是 在时间t_A期间在第二受脉冲作用的源(86，100，138)处于打开状态 时进行测量的，以及信号S_B是在时间t_B期间在第二受脉冲作用的源 (86，100，138)处于关闭状态时进行测量的：

A_Cal＝[S_A-S_B]/X_Ref

X_Ref是第二受脉冲作用的源(86)的强度。