[发明专利]具有至本地测试设施的无线接口的远程测试设施无效
| 申请号： | 200580043515.9 | 申请日： | 2005-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN101080642A | 公开（公告）日： | 2007-11-28 |
| 发明（设计）人： | I·Y·坎达斯;B·N·埃尔德里奇 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陈炜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 具有 本地 测试 设施 无线 接口 远程 | ||
1.一种控制器件的测试的方法，所述方法包括：
将测试数据无线地发送至本地测试设施，所述测试数据用来测试所述器件中的一些；
无线地接收测试所述器件中的所述一些的结果；以及
将关于所述测试的所述结果的测试信息无线地发送至设计所述器件所在的设计设施或制造所述器件所在的制造设施中的至少一个。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述器件包括电子器件。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，仅当一触发器被激活时，所述测试信息才被发送至所述设计设施或所述制造设施中的一个。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述触发器涉及测试所述电子器件的累积结果。
5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试信息被实时发送。
6.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述电子器件包括半导体芯片。
7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述芯片构成一未单体化的半导体晶片。
8.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括在所述设计设施处创建所述电子器件的设计。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括利用所述测试信息来修改所述电子器件的所述设计。
10.如权利要求8所述的方法，其特征在于，还包括在所述制造设施处制造所述电子器件。
11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，还包括利用所述测试信息来修改所述电子器件的制造。
12.如权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括在所述制造设施处制造所述电子器件。
13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，还包括利用所述测试信息来修改所述电子器件的制造。
14.一种用于控制器件的测试的设备，所述设备包括：
第一发送装置，用来将测试数据无线地发送至本地测试设施，所述测试数据用来测试所述器件中的一些；
接收装置，用来无线地接收所述器件中的所述一些的所述测试的结果；
第二发送装置，用来将有关所述测试的所述结果的测试信息无线地发送至设计所述器件所在的设计设施或制造所述器件所在的制造设施中的至少一个。
15.如权利要求14所述的设备，其特征在于，所述器件包括电子器件。
16.如权利要求15所述的设备，其特征在于，仅当一触发器被激活时，所述第二发送装置才将所述测试信息发送至所述设计设施或所述制造设施中的一个。
17.如权利要求16所述的设备，其特征在于，所述触发器涉及测试所述电子器件的累积结果。
18.如权利要求15所述的设备，其特征在于，所述第二发送装置实时地将所述测试信息发送至所述设计设施或所述制造设施中的一个。
19.如权利要求15所述的设备，其特征在于，所述电子器件包括半导体芯片。
20.如权利要求19所述的设备，其特征在于，所述芯片构成一未单体化的半导体晶片。
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