[发明专利]对存储介质上的光学效应的分析

权利要求书

1.用于分析光学记录介质(11)上的光学效应(23)的质量的方法，该方法包括以下步骤：

a)确定来自该光学记录介质的所测得的光学信号的波形(61)；

b)确定标称信号的波形(60)，该标称信号通过光学通道模型计算得到；

c)计算幅度差参数，该幅度差参数基于所测得的波形与该标称波形中的幅度差，其中从该幅度差参数确定所述光学效应的质量量度。

2.根据权利要求1的方法，其中，提供了幅度差参数的直方图(40)，并且从该直方图的宽度和中心位置确定所述质量量度。

3.根据权利要求1的方法，其中，所述光学信号包括从具有第一宽度(311)的第一区域(22)反射的第一部分(28，31)以及从具有第二宽度(321)的第二区域(23)反射的第二部分(27，32)，其中从第一区域到第二区域的过渡被标记为前沿(33)，所述前沿由第二和第一宽度索引，从第二区域到第一区域的过渡被标记为后沿(34)，所述后沿由第一和第二宽度索引，其中在前沿和/或后沿附近获得所述幅度差参数。

4.根据权利要求3的方法，其中，为特定类型的过渡获得所述幅度差参数。

5.根据权利要求3的方法，其中，把所述幅度差参数确定为特定过渡之前的该区域的宽度和/或后面的该区域的宽度的函数。

6.根据权利要求3的方法，其中，从过渡两端的所述幅度差的改变(62，63)获得所述幅度差参数。

7.根据权利要求3的方法，其中，从过渡两端的所述幅度差的总和(64，65)获得所述幅度差参数。

8.用于从光学存储介质(11)中读取光学效应(23)的设备，包括：

—辐射源(6)，其用于将辐射光束发射到光学存储介质上；

—读取单元(7)，其用于读取所记录的效应；

—用于如权利要求1的方法所确定的那样确定所述幅度差参数的装置。

9.光学记录仪器(1)，包括：

—辐射源(6)，其用于发射具有可控的写入功率电平值的辐射光束，用以在所述记录介质(11)上记录光学效应(23)；

—读取单元(7)，其用于读取所记录的效应；

—用于根据如权利要求1的方法所确定的幅度差参数调节写入策略中的功率电平和/或电平持续时间的装置。

10.用于确定幅度差参数的集成电路(IC)，该IC被适配成驱动光学存储仪器，以便测量如权利要求1的方法所确定的幅度差参数。

11.光学存储介质上的光学效应(23)，其中利用写入参数提供所述光学效应(23)，从所测得的波形(61)与标称波形(60)中的幅度差参数确定所述写入参数，所述幅度差参数是从根据权利要求1的方法确定的。

12.用于确定幅度差参数的计算机可读代码，该代码被适配成根据权利要求1的方法确定幅度差参数。

13.幅度差参数的使用，该幅度差参数是从在所测得的波形与标称波形之间确定的幅度差参数所确定的，用以在光学记录仪器中设置写入参数的最优值。