[发明专利]用于光学信号的过渡偏移定时

权利要求书

1、一种确定来自光学记录介质(11)的所测量的光学信号中的一系列通道比特(30)中的过渡偏移(37)的定时的方法，该光学信号包括从具有第一宽度(311)的第一区域(22)反射的第一部分(28，31)以及从具有第二宽度(321)的第二区域(23)反射的第二部分(27，32)，其中，从第一区域到第二区域的过渡被标记为由第一和第二宽度索引的前沿(33)，并且从第二区域到第一区域的过渡被标记为由第二和第一宽度索引的后沿(34)，该方法包括以下步骤：

a)以中心孔径信号(CA信号)的形式提供所测量的光学信号的值；

b)提供对应于所测量的光学信号的调制比特；

c)通过光学通道模型计算模型信号，所计算的模型包括所述前沿和后沿的输入定时，所述输入定时是一系列输入过渡偏移；

d)从考虑到所测量的光学信号、所述调制比特和所计算的模型信号的数学模型确定所述前沿和后沿的输出定时，所述输出定时是一系列输出过渡偏移，

其中，在评估步骤中使用的输入定时是在前一个评估步骤中确定的输出定时，并且所述模型与所测量的信号之间的差异与所述输入定时一起被用来计算后续的输出定时；以及

e)继续所述评估序列，直到在特定评估步骤中获得的一系列输出过渡偏移满足预定标准，

其中，最后获得的一系列输出过渡偏移是所测量的CA信号的通道比特的平均过渡偏移(500，501)。

2、根据权利要求1的方法，其中，用线性光学模型来表示所述所计算的模型信号，该线性光学模型由离散有限脉冲响应(FIR)实现方式近似。

3、根据权利要求1的方法，其中，所测量的光学信号和所计算的模型信号都通过比特同步近似来表示，其与所述光学介质上的所述调制比特同步。

4、根据权利要求1的方法，其中，在误差环路中把所述模型与所述所测量的信号之间的差异最小化，在该误差环路中均方误差被最小化。

5、根据权利要求1的方法，其中，作为在特定过渡偏移之前的该区域的宽度和后面的区域的宽度的函数来确定所述前沿(500)和后沿(501)的定时。

6、根据权利要求1的方法，其中，根据特定类型的前沿和/或后沿的平均过渡偏移来优化用于在光学介质上写入特定光学效应的写入脉冲(60，100，120，150)中的一个或多个写入参数(E，W，B，C，D)。

7、根据权利要求6的方法，还包括以下步骤：

α)从光学存储介质(11)中读取光学效应(23)的模式(29)，该模式包括一个或多个光学效应，所述一个或多个光学效应当中的每一个与预定写入策略(60，100，120，150)相关联，该写入策略包括一个或多个写入参数(E，W，B，C，D)；

β)执行权利要求1的方法，从而提供所述所测量的CA信号的通道比特的所述平均过渡偏移；以及

γ)通过一组预定规则调节所述一个或多个写入参数。

8、根据权利要求7的方法，其中，通过使用所述调节后的写入参数以及重复所述步骤α)、β)和γ)向所述光学存储介质提供光学效应的加模式。

9、根据权利要求7的方法，其中，所述一个或多个写入参数包括：

功率电平和/或电平持续时间(151)。

10、一种用于运行权利要求1的方法的模块，该模块包括：

第一输入部分，其用于以所测量的所采样波形的形式输入所述CA信号；

第二输入部分，其用于输入通道比特流；

用于根据权利要求1的方法处理该CA信号和该通道比特流的装置；以及

输出部分，其用于输出所述所测量的CA信号的通道比特的所述平均过渡偏移；以及

可选的处理装置，其用于根据所述规则评估所述过渡偏移。

11、一种光学记录设备(1)，包括：

-辐射源(6)，其用于发射具有可控写入功率电平(P)值的辐射光束(3)以便在所述记录介质上记录光学效应(23)；

-读取单元(7)，其用于读取所记录的效应并且形成相应的读取信号部分；

-根据由权利要求1的方法确定的所述所测量的CA信号的特定类型的前沿和/或后沿的所述平均过渡偏移(500，501)来调节写入策略中的功率电平和/或电平持续时间的装置。