[发明专利]用于鉴别和修复填塞蜂窝结构体中缺陷孔的方法和系统有效
申请号: | 200580043941.2 | 申请日: | 2005-12-16 |
公开(公告)号: | CN101184545A | 公开(公告)日: | 2008-05-21 |
发明(设计)人: | L·R·佐勒三世 | 申请(专利权)人: | 康宁股份有限公司 |
主分类号: | B01D46/00 | 分类号: | B01D46/00;F01N3/022 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沙永生 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 鉴别 修复 填塞 蜂窝 结构 缺陷 方法 系统 | ||
1.填塞蜂窝结构体的制备方法,它包括如下步骤:
把填塞蜂窝结构体放置在固定器中,
对填塞蜂窝结构体中缺陷孔进行成像,
产生填塞蜂窝结构体中缺陷孔的位置坐标,
移动到该位置坐标,和
标记或修复所述的缺陷孔而无需从固定器中重新移动填塞蜂窝结构体。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于所述的成像步骤还包括如下步骤:
把含有颗粒的气体物质导向该蜂窝结构体的第一端面,和
在该蜂窝结构体的第二端面拍摄逸出缺陷孔的含有颗粒的气体物质的反射光图象。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的移动步骤包括把标记工具移动到缺陷孔的位置坐标。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述的标记工具包括喷墨头。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述的修复步骤包括把计量头移动到缺陷孔的位置坐标处,并把填塞材料送入到缺陷孔中。
6.一种填塞蜂窝结构体中缺陷的检测方法,它包括如下步骤:
形成一片横跨蜂窝结构体的第一端面的具有第一色的光线,
在相应于蜂窝结构体中含有缺陷的孔的位置处产生该片光线的第一反射信号,
用第二色的入射光束照射第一端面,
产生该入射光束的第二反射信号,和
拍摄第一和第二反射信号的图象。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,产生第一反射信号包括:通过该蜂窝结构体的第二端面将气体物质通入蜂窝结构体中,其中该气体物质的颗粒通过有缺陷的孔在第一端面逸出,并与该片光线相交,产生第一反射信号。
8.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述的图像由第一色和第二色构成。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,第一色表示所述缺陷的尺寸和位置。
10.如权利要求8所述的方法,其特征在于,第二色表示所述孔在第一端面处的孔结构。
11.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述的第一色和第二色选自红、绿和蓝。
12.如权利要求6所述的方法,其特征在于,拍摄第一和第二反射信号的图象包括:用电荷耦合器件阵列感应第一和第二反射信号。
13.如权利要求6所述的方法,其特征在于,还包括处理所述的图象,以鉴别蜂窝结构体中含有缺陷的孔。
14.如权利要求13所述的方法,其特征在于,还包括标记或修复含有缺陷的孔。
15.如权利要求6所述的方法,其特征在于,形成一片光线包括:产生具有第一分布的多个光束和具有第二分布的多个光束,并将这些光束重叠,形成这片光线。
16.填塞蜂窝结构体中缺陷的检测系统,包括:
支撑所述蜂窝结构体的固定器,
用于形成一片横跨所述蜂窝结构体的第一端面的具有第一色的光线的第一照明装置,
用具有第二色的入射光束照射该第一端面的第二照明装置,
把含有颗粒的气体物质导向该蜂窝结构体的第二端面的气源,和
拍摄由这片光线和入射光束产生的反射信号图象的成像装置。
17.如权利要求16所述的系统,其特征在于,所述的成像装置包括用于检测反射信号的电荷耦合器件陈列。
18.如权利要求16所述的系统,其特征在于,它还包括从所述成像装置接受图象并处理该图象以鉴别蜂窝结构体中含有缺陷的孔的处理器。
19.如权利要求16所述的系统,其特征在于,所述的第一照明装置包括具有第一光束分布的多个第一光源和具有第二光束分布的多个第二光源,第一光束分布不同于第二光束分布。
20.如权利要求19所述的系统,其特征在于,第一光源和第二光源以交替方式排列。
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