[发明专利]用于诊断阻抗并具有精确的电流源和精确的电压电平漂移的系统有效
申请号: | 200580045071.2 | 申请日: | 2005-10-28 |
公开(公告)号: | CN101091118A | 公开(公告)日: | 2007-12-19 |
发明(设计)人: | 克拉斯-扬·德朗根;约翰·维特 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;B60R21/01 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 陈瑞丰 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 诊断 阻抗 具有 精确 电流 电压 电平 漂移 系统 | ||
1.一种用于测量电子部件阻抗的系统,它包括:
温度补偿电流源,与电源平面和地之间的电子部件并联连接,用以向所述电子部件提供预定的恒定的电流;和
经温度补偿的电压电平漂移装置,与所述电子部件并联地连接在电源平面和地之间,用以检测所述电子部件两端的电压,并提供与其相应的经电平漂移的输出电压Vout;和
与所述经温度补偿的电压电平漂移装置并联连接的补偿电路,用以提供一个作为温度补偿电流源和第一电流源提供的电流之间差的电流。
2.根据权利要求1所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述温度补偿电流源和经温度补偿的电压电平漂移装置是串联连接的。
3.根据权利要求1或2所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述经温度补偿的电压电平漂移装置包括与所述第一电流源串联连接的至少一个电阻器和输出端口,所述端口设在至少一个电阻器和所述第一电流源之间。
4.根据权利要求1-2任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,补偿电路包括共射共基放大器。
5.根据权利要求3所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,至少一个电阻器包括具有相反温度系数的两个电阻器。
6.根据权利要求1-2任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述电子部件包括电容器。
7.根据权利要求1-2任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述电子部件包括气囊系统的存储电容器。
8.一种用于测量电子部件阻抗的方法,所说方法包括如下步骤:通过与电源平面和地之间的电子部件并联连接温度补偿电流源,向所述电子部件提供预定的恒定的电流;并通过与所述电子部件并联地连接在电源平面和地之间的温度补偿的电压电平漂移装置,检测所述电子部件两端的电压,并提供与其相应的经电平漂移的输出电压Vout;以及
通过与温度补偿的电压电平漂移装置并联连接的补偿电路来提供一个作为经温度补偿电流源和第一电流源提供的电流之间差的电流。
9.一种用于测量电子部件阻抗的系统,所述系统包括:第二电流源,它与电源平面和地之间的电子部件并联连接,用以向所述电子部件提供电流;以及电压电平漂移装置,它与所述电子部件并联地连接在电源平面和地之间,并与第二电流源并联连接;所述电压电平漂移装置用于检测所述电子部件两端的电压,并提供与其相应的经电平漂移的输出电压Vout;所述电压电平漂移装置包括:至少一个电阻器,电阻器与第一电流源串联连接;以及输出端口,所述端口设在至少一个电阻器和第一电流源之间;所述第一和第二电流源具有相反的温度系数,以使提供给电子部件的电流基本为不变的。
10.根据权利要求9所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述电压电平漂移装置包括电压-电流转换器,用于根据基准电阻器的电阻和基准电阻器两端的基准电压提供电流。
11.根据权利要求10所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述电压-电流转换器包括晶体管和与所述晶体管基极连接的放大器。
12.根据权利要求9-11任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述第二电流源包括电压-电流转换器。
13.根据权利要求9-11任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,还包括:与输出端口通信联系的起始比较器、起始基准电压源和计数器,用于比较输出电压Vout与起始基准电压,并提供比较的结果,并在比较的结果表示为匹配时,向计数器提供与其相应的信号;与输出端口通信联系的停止比较器、停止基准电压源计数器,用于比较输出电压Vout与停止基准电压,并提供比较的结果,并在比较的结果表示匹配时,向计数器提供与其相应的信号。
14.根据权利要求13所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,还包括与计数器通信的数字时钟,用于确定计数器的起始和停止之间的时间间隔。
15.根据权利要求9-11任一项所述的用于测量电子部件阻抗的系统,其中,所述第二电流源包括PTAT电流源。
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