[发明专利]电流作为磁头-磁盘接口处调制的探测器

权利要求书

1.一种测试方法，包括：

将磁读/写头以浮动高度定位在磁存储介质上方；

从所述磁存储介质读取信号；

测量所述磁读/写头和所述磁存储介质之间的交变电流的电流值；以及

基于所述交变电流确定所述磁读/写头的调制。

2.如权利要求1所述的测试方法，还包括降低所述浮动高度。

3.如权利要求2所述的测试方法，还包括将所加电压加到所述读/写头上，以降低所述浮动高度。

4.如权利要求3所述的测试方法，还包括增大所述电压，直到所述交变电流可清楚检测到。

5.如权利要求1所述的测试方法，还包括放大所述交变电流。

6.如权利要求5所述的测试方法，还包括用示波器测量所述交变电流。

7.一种测试系统，包括：

磁存储介质，用于存储数据；

磁读/写头，用于向所述磁存储介质写入数据和从中读取数据；

磁头常平架组件，用于将所述磁读/写头以浮动高度定位在所述磁存储介质上方；以及

测试仪，用于测量所述磁读/写头和所述磁存储介质之间的交变电流的电流值，并基于所述交变电流确定所述磁读/写头的调制。

8.如权利要求7所述的测试系统，其中降低所述浮动高度。

9.如权利要求8所述的测试系统，还包括电压源，以将电压加到所述读/写头上以降低所述浮动高度。

10.如权利要求9所述的测试系统，其中增大所述电压，直到所述测试仪可清楚检测到所述交变电流。

11.如权利要求7所述的测试系统，还包括电流放大器，以放大所述交变电流。

12.如权利要求7所述的测试系统，其中所述测试仪是示波器。

13.如权利要求7所述的测试系统，其中所述磁头常平架组件与电接地隔离。

14.如权利要求13所述的测试系统，还包括放置在所述磁头常平架组件和所述测试仪夹头之间的塑料垫片，以电隔离所述磁头常平架组件。