[发明专利]全息图记录装置

说明书

技术领域

本发明涉及例如使用激光在全息图记录介质上记录全息图的全息图记录装置。

背景技术

图9示出了以往的全息图记录装置(参照下述的专利文献1)。图示的全息图记录装置包括：激光光源100；准直镜200；第一和第二分光器(beam splitter)300A、300B；反射板310；空间光调制器400；二维探测器500；记录光、再现光两用的物镜600；棱镜700；以及参照光用的物镜710。空间光调制器400由可以选择性地使光透过的液晶装置构成。物镜600、710以及棱镜700被装入到头部单元800。头部单元800与全息图记录介质B的间隔和倾斜由驱动单元810控制。

当进行记录时，来自激光光源100的光束通过准直镜200向第一分光器300A入射。入射光束被第一分光器300A分离为透过光和反射光。透过光直射到空间光调制器400，并被空间光调制器400调制成含有二维信息的记录光。该记录光通过第二分光器300B和物镜600照射到全息图记录介质B上。反射光用作与上述记录光发生干涉的参照光。该参照光通过反射板310、棱镜700、以及物镜710而经由与记录光的光路L1不同的光路L2到达全息图记录介质B。通过记录光与参照光发生干涉，在全息图记录介质B的记录层92上记录全息图。当进行再现时，不驱动空间光调制器400，仅向全息图记录介质B照射参照光。通过参照光照射到记录层92的全息图上，全息图记录介质B发出再现光。该再现光通过物镜600和第二分光器300B而被二维探测器500接收。由此，作为全息图记录在全息图记录介质B上的信息被再现。

专利文献1：日本专利文献特开平9-305978号公报。

但是，在上述以往的全息图记录装置中，由于记录光的光路L1和参照光的光路L2在空间上是分离的，因此存在着光学系统变得复杂的难点。例如，由于记录光和参照光以较大的规定角度相交差而发生干涉，因此两个物镜600、710必须在准确地进行了对位的基础上组装到头部单元800中。

发明内容

本发明是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种可以简化光学系统的全息图记录装置。

为了解决上述问题，本发明采用以下技术手段。

由本发明提供的全息图记录装置包括：光源，射出可干涉的(coherent)光束；以及空间光调制器，将来自该光源的光束的一部分调制成含有二维信息的记录光；所述全息图记录装置将所述光束的其他部分用作与所述记录光发生干涉的参照光，并向全息图记录介质照射所述记录光和参照光，所述全息图记录装置的特征在于，在所述光源与所述空间光调制器之间配置有半透光性的光学元件，该光学元件使所述光束的一部分作为透过光向所述空间光调制器行进，同时使所述光束的其他部分作为反射光向所述全息图记录介质行进，并且所述记录光和参照光在由所述光学元件分离为透过光和反射光之后通过同一光路照射到所述全息图记录介质上。

优选的是：所述记录光在透过所述光学元件并被所述空间光调制器调制之后再次向反方向透过所述光学元件并沿所述光路前进，同时所述参照光在被所述光学元件反射之后与所述记录光一起沿所述光路前进而达到所述全息图记录介质。

优选的是：在所述光源与所述光学元件之间配置有分光器，该分光器使所述光束作为透过光向所述光学元件行进，同时使从该光学元件返回的所述记录光和参照光作为反射光向所述全息图记录介质行进。

优选的是：所述全息图记录装置按照当进行再现时不驱动所述空间光调制器而仅向所述全息图记录介质照射所述参照光的方式构成，其包括二维探测器，当进行该再现时，该二维探测器接收从所述全息图记录介质透过所述分光器而来的光，读出作为全息图而记录在该全息图记录介质上的信息。

优选的是：所述光学元件由具有形成有电介质膜的入射面的半透镜(half mirror)构成，所述空间光调制器由可变形镜面装置构成。

优选的是：与所述空间光调制器相对的所述光学元件的出射面形成为曲面状。

优选的是：在所述光学元件与所述空间光调制器之间配置有相位板。

优选的是：所述光学元件由具有形成有电介质膜的入射面的半透镜构成，所述空间光调制器由液晶装置构成。

优选的是：在所述空间光调制器的、与所述光学元件相对一侧的相反一侧配置有反射板，该反射板反射透过了该空间光调制器的光而使其再次向反方向透过。

优选的是：在所述空间光调制器与所述反射板之间、或者在所述光学元件与所述空间光调制器之间配置有相位板。

附图说明