[发明专利]用于过程控制系统的诊断设备有效

专利信息
申请号: 200580048350.4 申请日: 2005-02-15
公开(公告)号: CN101124523A 公开(公告)日: 2008-02-13
发明(设计)人: A·安登纳;A·莫罗尼;G·因弗尼兹 申请(专利权)人: ABB研究有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418;G05B23/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 原绍辉;黄力行
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 过程 控制系统 诊断 设备
【权利要求书】:

1.一种诊断设备(10),其包括

-用于接收过程的过程介质(2)的过程变量的过程变量值(x(t))的接收装置(100),

-用于从在测量阶段(300)期间测量的这样的过程变量值提取和记录测量结果统计数据的测量结果处理装置(300),

其特征在于,该诊断设备包括

-用于从在训练阶段(200)期间测量的这样的过程变量值提取和记录训练统计数据的训练处理装置(200),及

-用于比较测量结果统计数据与在测量结果统计数据之前记录的训练统计数据的比较装置(400)。

2.根据权利要求1所述的诊断设备(10),其特征在于,其包括用于测量过程变量和用于产生过程变量值(x(t))的感测装置(25)。

3.根据权利要求1或权利要求2所述的诊断设备(10),其特征在于,比较装置(400)具有与过程的状况相关的状况输出(500),其中,过程的状况与过程变量的测量不同。

4.根据权利要求2和权利要求3所述的诊断设备(10),其特征在于,状况输出(500)与感测装置(25)的状况相关。

5.根据前面的权利要求之一所述的诊断设备(10),其特征在于,测量结果统计数据和训练统计数据涉及过程介质(2)内携带的噪声。

6.根据前面的权利要求之一所述的诊断设备(10),其特征在于,训练处理装置(200)计算训练经验统计分布(250;251)。

7.根据权利要求6所述的诊断设备(10),其特征在于,训练经验统计分布(250,251)为在训练阶段(200)期间测量的过程变量值(x(t))的函数的分布。

8.根据权利要求6所述的诊断设备(10),其特征在于

-测量结果处理装置(300)计算在测量阶段(300)期间测量的过程变量值(x(t))的变换得到一组正交函数的系数Xm(k),

-训练处理装置(200)计算在训练阶段(200)期间测量的过程变量值(x(t))的变换得到相同的组的正交函数的系数Xt(k),及

-训练经验统计分布(250)为系数Xt(k)的函数的分布。

9.根据权利要求8所述的诊断设备(10),其特征在于,变换为傅立叶变换和小波变换的组中的一个。

10.根据权利要求6-9之一所述的诊断设备(10),其特征在于,训练处理装置(200)计算近似训练经验统计分布(250)的训练解析分布函数(270;271)。

11.根据权利要求10所述的诊断设备(10),其特征在于,训练解析分布函数(270;271)为伽马分布函数。

12.根据权利要求7和权利要求10所述的诊断设备(10),其特征在于,测量结果统计数据包括在测量阶段(300)期间测量的过程变量值的函数的平均值Mp,并且训练处理装置(200)作为训练统计数据或作为训练统计数据的一部分从训练解析分布函数(270)计算下限值Lt,p和上限值Ut,p,并且比较装置(400)在平均值Mp小于下限值Lt,p或大于上限值Ut,p的情况下输出故障指示。

13.根据权利要求8和权利要求10或权利要求9和权利要求10所述的诊断设备(10),其特征在于,测量结果统计数据包括系数Xm(k)的函数的平均值Mc,并且训练处理装置(200)作为训练统计数据或作为训练统计数据的一部分从训练解析分布函数(271)计算下限值Lt,c和上限值Ut,c,并且比较装置(400)在平均值Mc小于下限值Lt,c或大于上限值Ut,c的情况下输出故障指示。

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