[发明专利]粒子计数器

说明书

技术领域

本发明涉及用于测定样品中所含漂浮粒子的个数、求得样品中的 粒子浓度的粒子计数器。

背景技术

即使样品中不存在大小可测定的粒子，粒子计数器中也存在显示 为离散值(discrete value)的所谓的乱真计数。作为乱真计数产生的原 因，被认为是激光光源产生的噪声、光电变换器产生的噪声、各电路 中的随机的电压变动所导致的噪声、从外部侵入的宇宙射线等。

因此，为了减少激光光源产生的噪声，已知如下技术(例如，参 照专利文献1)：利用输出在直流电流中叠加有高频成分的驱动电流的 激光驱动电路来驱动激光二极管，将激光二极管的纵模设定为多模。

专利文献1：特开平9-178645号公报

但是，在专利文献1中所记载的粒子计数器中，可降低激光二极 管所导致的乱真计数，但是，存在无法应付其他因素所造成的乱真计 数的问题。

发明内容

本发明是鉴于现有技术中所存在的这样的问题而提出，其目的是 提供一种利用比较简单的结构就能够有效地降低由于各种原因所产生 的乱真计数的粒子计数器。

用于解决上述课题的第1方面的发明是一种粒子计数器，测定样 品中所含漂浮粒子的个数，求得样品中的粒子浓度，其具有：存储部， 存储预先求得的乱真计数的发生频率；减法处理部，从测定开始后的 离散值中减去基于该存储部中存储的上述乱真计数的发生频率的值。

第2方面的发明是一种粒子计数器，测定样品中所含漂浮粒子的 个数，求得样品中的粒子浓度，其具有：存储部，存储不存在粒子时 粒子检测部所输出的直流电平与乱真计数的发生频率的关系式；减法 处理部，参照该存储部中存储的上述关系式，求得测定开始时刻与上 述粒子检测部所输出的直流电平相对应的乱真计数的发生频率，从测 定开始后的离散值中减去基于该乱真计数的发生频率的值。

第3方面的发明是在第1方面或第2方面的粒子计数器中，上述减 法处理部将所求得的上述乱真计数的发生频率(m)的倒数(1/m) 作为减法处理的最小时间区间，利用该时间区间分割测定时间，如果 在某个时间区间内产生了使离散值增加的信号，则从离散值中减去应 减去的数目，如果没有产生使离散值增加的信号，则将应减去的数目 保留至下一时间区间。

按照如上述说明的第1方面的发明，掌握乱真计数的发生频率， 由此，可以将乱真计数的影响抑制在某个范围内，可获得更准确的离 散值。

根据第2方面的发明，可以掌握考虑了使用条件变化的乱真计数 的发生频率，将乱真计数的影响抑制在某个范围内，能够获得更准确 的离散值。

根据第3方面的发明，如果在某个时间区间内没有产生使离散值 增加的信号，则将应该减去的数目保留至下一时间区间，因此在没有 产生使离散值增加的信号的情况下，不执行减法处理，所以不会出现 已经显示出来的离散值被减小的情况。

附图说明

图1是本发明的粒子计数器的第1实施方式的结构图。

图2是表示本发明的粒子计数器的第1实施方式的动作的流程 图。

图3是本发明的粒子计数器的第2实施方式的结构图。

图4是光电变换器的输出电压波形图，(a)表示光散射方式的情 况，(b)表示消光方式的情况。

图5是表示光电变换器的直流电平与乱真计数的发生频率的关系 的图。

图6是表示本发明的粒子计数器的第2实施方式的动作的流程 图。

图7是表示在测定时间的某个时间区间的减法处理的步骤的流程 图。

具体实施方式

下面，根据附图对本发明的实施方式进行说明。这里，图1是本 发明的粒子计数器的第1实施方式的结构图，图2是同样地表示动作的 流程图，图3是本发明的粒子计数器的第2实施方式的结构图，图4 是光电变换器的输出电压波形图，图5是表示光电变换器的直流电平 与乱真计数的发生频率的关系的图，图6是表示第2实施方式的动作的 流程图，图7是表示在测定时间的某个时间区间的减法处理的步骤的 流程图。

如图1所示，本发明的粒子计数器的第1实施方式由利用光对样品 中的粒子进行检测的粒子检测部1、按照每一粒径划分来捕捉粒子的脉 冲高度分析部2、考虑了乱真计数进行运算处理的运算部3、对运算部 3的处理结果进行显示或直接以电信号方式输出的显示/输出部4构 成。