[发明专利]光纤准直仪系统、光纤准直仪阵列、光纤准直仪系统和光纤准直仪阵列系统的制造方法有效
| 申请号： | 200580049105.5 | 申请日： | 2005-04-05 |
| 公开（公告）号： | CN101156099A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 松村宏善;铃木太郎;阿知波徹 | 申请（专利权）人： | 东洋玻璃株式会社 |
| 主分类号： | G02B6/32 | 分类号： | G02B6/32 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光纤 准直仪 系统 阵列 制造 方法 | ||
1.一种光纤准直仪系统，其特征在于：使将光纤熔接在由含有从Sb2O3、Ta2O5、TiO2或ZrO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜(Graded Index透镜)的一端的带GRIN透镜的一对光纤在其GRIN透镜端面对置的情况下一体化的同时，在上述GRIN透镜端面之间设置光学元件。
2.一种光纤准直仪系统，其特征在于：使将光纤熔接在由含有从Ta2O5或TiO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜的一端的带GRIN透镜的一对光纤在其GRIN透镜端面对置的情况下一体化的同时，在上述GRIN透镜端面之间设置光学元件。
3.根据权利要求1或2所述的光纤准直仪系统，其特征在于：通过溶胶-凝胶法制造上述GRIN透镜。
4.一种光纤准直仪阵列，其特征在于：使将光纤熔接在由含有从Sb2O3、Ta2O5、TiO2或ZrO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜(Graded Index透镜)的一端的多个带GRIN透镜的光纤在并排排列上述GRIN透镜部分的情况下一体化。
5.一种光纤准直仪阵列，其特征在于：使将光纤熔接在由含有从Ta2O5或TiO2中选择的1种以上而作为折射率调整物质的石英玻璃构成的GRIN透镜的一端的多个带GRIN透镜的光纤在并排排列上述GRIN透镜部分的情况下一体化。
6.根据权利要求4或5所述的光纤准直仪阵列，其特征在于：通过溶胶-凝胶法制造上述GRIN透镜。
7.一种权利要求1至3中任一项所述的光纤准直仪系统的制造方法，其特征在于包括：
试制多个光纤准直仪系统的步骤；
测定试制得到的多个光纤准直仪系统的一对GRIN透镜的水平方向位置偏差量和倾角的步骤；
设定目标成品率和目标耦合损耗的步骤；
将上述水平方向位置偏差量和上述倾角与上述目标成品率对照，求取水平方向允许位置偏差量和允许倾角的步骤；
根据上述水平方向允许位置偏差量和允许倾角求取GRIN透镜的数值孔径的步骤；和
用数值孔径在上述求得的数值孔径以上的GRIN透镜制造光纤准直仪系统的步骤。
8.一种直接或隔着反射镜使一对权利要求4至6中任一项所述的光纤准直仪阵列对置的光准直仪阵列系统的制造方法，其特征在于包括：
试制多个光纤准直仪阵列系统的步骤；
测定试制得到的多个光纤准直仪阵列系统的各对应的GRIN透镜的水平方向位置偏差量和倾角的步骤；
设定目标成品率和目标耦合损耗的步骤；
将上述水平方向位置偏差量和上述倾角与上述目标成品率对照，求取水平方向允许位置偏差量和允许倾角的步骤；
根据上述水平方向允许位置偏差量和允许倾角求取GRIN透镜的数值孔径的步骤；和
用数值孔径在上述求得的数值孔径以上的GRIN透镜制造光纤准直仪阵列系统的步骤。
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