[发明专利]自动投影校准无效
申请号: | 200580050096.1 | 申请日: | 2005-04-11 |
公开(公告)号: | CN101208738A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
发明(设计)人: | 杰弗里·P·休斯;彼得·W·希尔德布兰德;斯科特·威尔逊;詹姆士·D·沃森;布伦特·W·安德森;尼尔·A·霍夫曼;伯兰德·C·科瓦弗莱;约瑟夫·休伯特 | 申请(专利权)人: | 波利维森有限公司 |
主分类号: | G09G5/10 | 分类号: | G09G5/10;G09G3/36 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人: | 颜涛;王漪 |
地址: | 美国乔*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 投影 校准 | ||
1.一种用于跟踪系统的校准方法,包括如下步骤:
提供一种包括显示面和投影设备的跟踪系统;
在至少一部分显示面上显示投影图;
检测投影图的特征;并且
响应于投影图的特征校准从投影设备至显示面的显示图像。
2.如权利要求1所述的方法,其中由投影设备完成在至少一部分显示面上显示投影图的步骤。
3.如权利要求1所述的方法,其中投影表面包括电子白板。
4.如权利要求1所述的方法,其中投影图包括一系列浅色和深色图案,并且该特征为光强。
5.如权利要求1所述的方法,其中在显示面上进行检测投影图特征的步骤。
6.如权利要求1所述的方法,其中该投影图随时间变化。
7.如权利要求3所述的方法,其中该白板包括半透明顶层。
8.如权利要求7所述的方法,其中该半透明顶层包括氧化铟锡。
9.如权利要求1所述的方法,其中由位于显示面后适于接收投影图特征的传感器组件完成检测投影图特征的步骤。
10.如权利要求9所述的方法,其中该传感器组件包括至少四条光纤,每条光纤具有接收该特征的接收端并且每条光纤具有终端。
11.如权利要求10所述的方法,其中该光纤基本上涂上黑墨。
12.如权利要求10所述的方法,其中该光纤与光纤终端的光电传感器连系。
13.如权利要求9所述的方法,其中传感器组件包括单条光纤,其中该光纤允许光线漏入光纤内。
14.如权利要求13所述的方法,其中该单条光纤包括垂直和水平敷设敷设。
15.如权利要求3所述的方法,还包括对干涉能量频率采样的步骤。
16.如权利要求16所述的方法,还包括过滤干涉能量。
17.一种用于跟踪系统的校准方法,包括如下步骤:(i)提供具有显示面的跟踪系统;(ii)提供处理器;(iii)提供与该处理器连系的投影设备;(iv)启动校准过程;(v)通过主持人互动使校准过程从开始到结束;以及(vi)进行显示面和处理器之间位置的校准;其改进之处在于包括没有主持人互动下完成校准过程从开始到结束的步骤。
18.如权利要求17所述的改进校准方法,在远离处理器的位置启动该校准过程。
19.如权利要求17所述的改进校准方法,自动进行启动该校准过程从开始到结束的步骤。
20.如权利要求17所述的改进校准方法,主持人不触摸显示面地进行启动该校准过程直到结束的步骤。
21.如权利要求17所述的改进校准方法,启动校准过程以从开始到结束的步骤包括如下步骤:
在至少一部分显示面上显示投影图;
检测投影图的特征;并且
其中校准显示面和处理器之间位置的步骤采用投影图的特征。
22.如权利要求21所述的改进校准方法,其中由投影设备完成在至少一部分显示面上显示投影图的步骤。
23.如权利要求21所述的改进校准方法,其中该投影图包括一系列浅色和深色图案,并且该特征为光强。
24.如权利要求21所述的改进校准方法,其中该投影图随时间变化。
25.如权利要求21所述的改进校准方法,其中该显示面包括电子白板。
26.如权利要求25所述的改进校准方法,其中在白板上进行检测该特征的步骤。
27.如权利要求25所述的改进校准方法,其中该白板包括氧化铟锡。
28.如权利要求21所述的改进校准方法,其中由位于显示面后面适于接收投影图特征的传感器组件完成检测投影图特征的步骤。
29.如权利要求28所述的改进校准方法,其中该传感器组件至少包括四条光纤,每条光纤具有接收该特征的接收端。
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