[发明专利]用于流量计的校验诊断的仪表电子器件和方法

权利要求书

1、用于流量计(5)的仪表电子器件(20)，该仪表电子器件(20)包括用于接收来自流量计(5)的振动响应的接口(201)，该振动响应包括在基本谐振频率处对流量计(5)的振动的响应；以及与接口(201)通信的处理系统(203)，该仪表电子器件(20)进一步包括：

处理系统(203)被布置成接收来自接口(201)的振动响应，确定振动响应的频率(ω₀)，确定振动响应的响应电压(V)和驱动电流(I)，测量流量计(5)的衰减特性(ζ)，并从频率(ω₀)，响应电压(V)，驱动电流(I)和衰减特性(ζ)确定刚度参数(K)。

2、权利要求1的仪表电子器件(20)，测量衰减特性(ζ)进一步包括允许流量计(5)的振动响应向下衰减至预定振动目标。

3、权利要求1的仪表电子器件(20)，处理系统(203)被进一步布置成通过去除流量计(5)的激励以及在测量衰减特性的同时允许流量计(5)的振动响应向下衰减至预定振动目标来测量衰减特性(ζ)。

4、权利要求1的仪表电子器件(20)，刚度参数(K)包括K＝(I*BL_PO*BL_DR*ω₀)/2ζV。

5、一种用于确定流量计的刚度参数(K)的方法，该方法包括接收来自流量计的振动响应，该振动响应包括在基本谐振频率处对流量计的振动的响应，以及确定振动响应的频率(ω₀)，该方法进一步包括：

确定振动响应的响应电压(V)和驱动电流(I)；

测量流量计的衰减特性(ζ)；以及

从频率(ω₀)，响应电压(V)，驱动电流(I)和衰减特性(ζ)确定刚度参数(K)。

6、权利要求5的方法，测量衰减特性(ζ)进一步包括允许流量计的振动响应向下衰减至预定振动目标。

7、权利要求5的方法，测量衰减特性(ζ)进一步包括：

去除流量计的激励；以及

在测量衰减特性的同时允许流量计的振动响应向下衰减至预定振动目标。

8、权利要求5的方法，刚度参数(K)包括K＝(I*BL_PO*BL_DR*ω₀)/2ζV。

9、一种用于确定流量计的刚度变化(ΔK)的方法，该方法包括接收来自流量计的振动响应，该振动响应包括在基本谐振频率处对流量计的振动的响应，以及确定振动响应的频率(ω₀)，该方法进一步包括：

确定振动响应的响应电压(V)和驱动电流(I)；

测量流量计的衰减特性(ζ)；

从频率(ω₀)，响应电压(V)，驱动电流(I)和衰减特性(ζ)确定刚度参数(K)；

在第二时间t₂处接收来自流量计的第二振动响应；

从第二振动响应产生第二刚度参数(K₂)；

比较第二刚度特性(K₂)与刚度参数(K)；以及

如果第二刚度特性(K₂)和刚度参数(K)的不同大于预定公差，则检测刚度变化(ΔK)。

10、权利要求9的方法，进一步包括如果第二刚度特性(K₂)和刚度参数(K)的不同大于预定刚度公差，则检测刚度变化(ΔK)。

11、权利要求9的方法，进一步包括从该比较量化刚度变化(ΔK)。

12、权利要求9的方法，测量衰减特性(ζ)进一步包括允许流量计(5)的振动响应向下衰减至预定振动目标。

13、权利要求9的方法，测量衰减特性(ζ)进一步包括：

去除流量计的激励；以及

在测量衰减特性的同时允许流量计的振动响应向下衰减至预定振动目标。

14、权利要求9的方法，刚度参数(K)包括K＝(I*BL_PO*BL_DR*ω₀)/2ζV。