[发明专利]低缺陷密度的改变取向的Si及其产品无效
申请号: | 200610005701.X | 申请日: | 2006-01-06 |
公开(公告)号: | CN1818155A | 公开(公告)日: | 2006-08-16 |
发明(设计)人: | 朱尔·佩雷拉·德·苏扎;凯斯·爱德华·福格尔;约翰·阿尔布雷什·奥特;德温德拉·库马尔·萨达纳;凯瑟琳·林恩·萨恩格尔 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
主分类号: | C30B33/02 | 分类号: | C30B33/02;H01L21/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 缺陷 密度 改变 取向 si 及其 产品 | ||
【说明书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国际商业机器公司,未经国际商业机器公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610005701.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。