[发明专利]一种在嵌入式系统中测试内存的方法无效

专利信息
申请号: 200610022731.1 申请日: 2006-12-31
公开(公告)号: CN101211291A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 何三波 申请(专利权)人: 迈普(四川)通信技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 成都虹桥专利事务所 代理人: 李顺德
地址: 610041四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 嵌入式 系统 测试 内存 方法
【权利要求书】:

1.一种在嵌入式系统中测试内存的方法,其特征在于,包括以下步骤:

a、在参数寄存器中设置内存测试标志;

b、处理器在ROM中运行基本硬件初始化程序时,判断是否有内存测试标志;若是,进入步骤c;若否,处理器跳转到内存中运行系统初始化程序;

c、处理器在ROM中运行内存测试程序对内存进行全面测试;

d、测试完毕,保存测试结果;

e、应用程序在内存启动,将测试结果输出到用户界面。

2.如权利要求1所述一种在嵌入式系统中测试内存的方法,其特征在于,所述步骤a具体是:系统进入用户界面,用户输入测试命令,完成向参数寄存器中写入测试标志。

3.如权利要求2所述一种在嵌入式系统中测试内存的方法,其特征在于,所述步骤a中还包括以下步骤:用户输入测试命令后,重启软件系统,处理器跳转到ROM运行基本硬件初始化程序。

4.如权利要求1、2或3所述一种在嵌入式系统中测试内存的方法,其特征在于,步骤d所述保存测试结果具体包括以下步骤:

d1、处理器将测试结果保存到其参数寄存器;

d2、处理器跳转到内存运行系统初始化程序;

d3、处理器将参数寄存器保存的测试结果保存到内存中特定的位置。

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