[发明专利]改善化学机械研磨终点检测及检测前道工艺的方法有效
申请号: | 200610030313.7 | 申请日: | 2006-08-23 |
公开(公告)号: | CN101130235A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 王海军;谢煊;程晓华;杨欣 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | B24B49/10 | 分类号: | B24B49/10 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾继光 |
地址: | 201206上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 改善 化学 机械 研磨 终点 检测 工艺 方法 | ||
【权利要求书】:
1.一种改善化学机械研磨终点检测及检测前道工艺的方法,其特征在于包括如下步骤:
在研磨程序的软件设定中,设定最小研磨时间;
当终点检测时记录主研磨步骤研磨时间;
将该研磨时间和所述的设定最小研磨时间和最大研磨时间进行比较,当它在设定的最小研磨时间和最大研磨时间之内,则正常;
当该研磨时间大于等于最大研磨时间或小于最小研磨时间,则输出信号至报警单元报警,并使机台停止研磨,进行处理。
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