[发明专利]用于半导体制程中的金属防腐蚀清洗液有效
申请号: | 200610030456.8 | 申请日: | 2006-08-25 |
公开(公告)号: | CN101130876A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
发明(设计)人: | 徐春;宋伟红;荆建芬;顾元 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C23G1/06 | 分类号: | C23G1/06 |
代理公司: | 上海虹桥正瀚律师事务所 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203上海市浦东新区张江高*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 半导体 中的 金属 腐蚀 清洗 | ||
1.一种用于半导体中金属防腐蚀的清洗液,其特征在于:包括一种载体,还包括一种或多种有效清除金属表面各种残留,同时有效防止金属表面腐蚀的有机酸化学添加剂。
2.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于:所述的有机酸化学添加剂为有机羧酸、有机膦酸、有机磺酸或含氮氨基酸以及它们的形成盐形成的组合物。
3.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机羧酸为柠檬酸、草酸、酒石酸、琥珀酸或马来酸中的一种或多种的组合。
4.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机膦酸包括烷基膦酸、苯基膦酸、1-羟基乙烯基-1,1-二膦酸、亚甲基膦酸,乙烯基-二胺-4、亚甲基膦酸、丁烷膦酰基-1,2,4-三羧酸、环己基-二胺-4、亚甲基膦酸、环丁烷基-三胺-5-亚甲基膦酸或多氨基多醚基四亚甲基膦酸中的一种或多种的组合。
5.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机磺酸包括甲基磺酸、乙基磺酸、二甲基磺酸或丁基磺酸内酯中一种或多种的组合。
6.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的含氮氨基酸包括甘氨酸、丙氨酸、亮氨酸、异亮氨酸、缬氨酸、胱氨酸、半胱氨酸、甲硫氨酸、苏氨酸、丝氨酸、苯丙氨酸、酪氨酸、色氨酸、脯氨酸、羟脯氨酸,谷氨酸、天门冬氨酸、赖氨酸或精氨酸中的一种或多种的组合。
7.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机羧酸化学添加剂的重量百分比含量为0.05~5%。
8.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机膦酸化学添加剂的重量百分比含量为0.02~1%。
9.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的有机磺酸化学添加剂的重量百分比含量为0.02~1%。
10.如权利要求2所述的清洗液,其特征在于:所述的氨基酸化学添加剂的重量百分比含量为0.05~5%。
11.如权利要求1至10任一所述的清洗液,其特征在于:所述的清洗液还包括PH调节剂、表面活性剂和/或聚合物金属防腐抑制剂。
12.如权利要求11所述的清洗液,其特征在于:所述的聚合物金属防腐抑制剂为聚丙烯酸类化合物、丙烯酸类化合物与苯乙烯的共聚化合物、丙烯酸类化合物与顺丁烯二酸酐的共聚化合物、丙烯酸类化合物与丙烯酸酯类的共聚化合物、膦酰基羧酸共聚物、丙烯酸-丙烯酸酯-磺酸盐三元共聚物或者丙烯酸-丙烯酸酯-膦酸-磺酸盐四元共聚物。
13.如权利要求11所述的清洗液,其特征在于:所述的聚合物金属防腐抑制剂分子量在2,000~3,000,000。
14.如权利要求13所述的清洗液,其特征在于:所述的聚合物金属防腐抑制剂重量百分比含量范围在0~20%。
15.如权利要求12~14所述的清洗液,其特征在于所述的聚合物金属防腐抑制剂为多聚羧酸和/或其盐为式I化合物:
式I
其中,R1、R2独自地为氢原子或碳原子数小于3的烷基,R3为H、K、Na或NH4。
16.如权利要求15所述的清洗液,其特征在于:所述的聚丙烯酸类化合物为聚丙烯酸。
17.如权利要求15所述的清洗液,其特征在于:所述的聚丙烯酸类化合物分子量为5,000~30,000。
18.如权利要求11或15所述的清洗液,其特征在于:所述的聚丙烯酸类化合物重量百分比含量为10ppm~5000ppm。
19.如权利要求4或5所述的清洗液,其特征在于:所述的清洗液还包括含氮杂环化合物为苯并三唑、吡唑和/或咪唑。
20.如权利要求19所述的清洗液,其特征在于:所述的清洗液还包括含氮杂环化合物为重量百分比含量为0~0.1%。
21.如权利要求1所述的清洗液,其特征在于:所述的清洗液的pH值范围为2~7。
22.根据权利要求1所述的清洗液,其特征在于:所述的载体为醇类和/或水。
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