[发明专利]裸芯片测试与老化筛选临时封装载体无效
| 申请号： | 200610034730.9 | 申请日： | 2006-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101021547A | 公开（公告）日： | 2007-08-22 |
| 发明（设计）人： | 黄云;恩云飞;师谦;罗宏伟 | 申请（专利权）人： | 信息产业部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 程跃华 |
| 地址： | 510610广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 老化 筛选 临时 封装 载体 | ||
【权利要求书】：
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