[发明专利]电阻测量方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种电阻测量方法。

【背景技术】

在电学领域中，导体的电阻R计算公式如下：

1R=∫V1ρSL---(1)]]>

其中ρ为导体的电阻系数，L为导体的长度，S为导体的截面积，V为导体的体积。

在电子测量及分析中常会需要获取导体的电阻，传统的电阻测量方法，是将导体拆分成为若干近似长方体，再利用现有的电阻计算公式分别计算出各部分的电阻，再将得到的电阻相加以获取整个导体的电阻，其电阻计算公式如下：

R=Σi=1nρiLiSi]]>

此种电阻测量方法在导体形状较规则时较为实用，但当待测导体为复合材料、形状不规则或带有曲面时，此方法即难以精确计算出导体的电阻。

【发明内容】

鉴于以上内容，有必要提供一种电阻测量方法，用来准确测量复合材料导体及形状不规则导体的电阻。

一种电阻测量方法，包括如下步骤：测量设定条件下待测导体的热流量，导体热流量的计算公式为：Q·-ΔT=∫VKSL,]]>其中为导体的热流量，ΔT为导体的温度差，K为导体的导热系数，S为导体的截面积，L为导体的长度，V为导体的体积，导体的导热系数K及温度差ΔT满足如下公式：K=1ρ,]]>ΔT＝-1，其中ρ为导体的电阻系数；及计算待测导体的电阻，所述待测导体的电阻等于所述导体热流量的倒数。

本发明提供了一种电阻测量方法，只需测得设定条件下导体的热流量，即可精确计算出导体的电阻。

【附图说明】

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1是本发明电阻测量方法较佳实施方式的流程图。

图2是本发明电阻测量方法较佳实施方式中导体热流量测量方法的流程图。

【具体实施方式】

参考图1，所述电阻测量方法的较佳实施方式包括如下步骤：步骤1，测量设定条件下待测导体的热流量导体热流量的计算公式为：