[发明专利]便携式电子装置测试系统及测试方法无效
申请号: | 200610061645.1 | 申请日: | 2006-07-14 |
公开(公告)号: | CN101105514A | 公开(公告)日: | 2008-01-16 |
发明(设计)人: | 魏兆鸿;单弘;贾铁山;牛辉 | 申请(专利权)人: | 深圳富泰宏精密工业有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 便携式 电子 装置 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种便携式电子装置测试系统,特别涉及一种便于使用多个测试机台同时进行测试,并即时检测测试机台状态的便携式电子装置测试系统。
背景技术
在移动电话等便携式电子装置的生产过程中,出厂之前的性能测试是必不可少的一道工序。传统的测试系统包括一测试机台及一与该测试机台相连接并预先安装了测试程序的数据处理器。测试时,将便携式电子装置置于测试机台上采集相关测试数据,并使用数据处理器运行测试程序,显示测试结果。
当生产规模较大时,需要同时使用多套测试系统采集测试数据,最后将所有测试系统显示的测试数据集中处理,得到所需的测试结果。由于每套测试系统在投入使用前均需要安装测试程序,且每次的测试项目有所变动时,测试程序及相关测试参数也经常需要随之改动,因此,当所需测试系统数量较多时,在所有测试系统中安装测试程序及设置测试参数需要大量的重复劳动,导致人力和时间的浪费。另外,由于各套测试系统彼此之间没有联系,若有某套测试系统的测试机台发生故障造成测试数据失真则很难及时发现,使各测试机台的工作状态难以掌握,可能导致大量产品需要重新进行测试的后果,严重地延误生产过程。
发明内容
有鉴于此,有必要提供一种可节省测试时间并可及时检测测试机台状态的便携式电子装置测试系统。
另外,有必要提供一种可节省测试时间并可及时检测测试机台状态的便携式电子装置测试方法。
一种便携式电子装置测试系统,该便携式电子装置测试系统包括一数据处理器及若干测试机台,该若干测试机台同时与该数据处理器连接;该数据处理器包括一数据库模块及一数据处理模块,数据库模块储存测试参数,数据处理模块同时处理各测试机台采集的测试数据,进行产品测试并检测各测试机台的状态。
一种便携式电子装置测试方法,该方法包括以下步骤:提供一种便携式电子装置测试系统,该便携式电子装置测试系统包括一数据处理器及若干测试机台,该若干测试机台同时与该数据处理器连接;该数据处理器包括一数据库模块及一数据处理模块,数据库模块储存测试参数,数据处理模块同时处理各测试机台采集的测试数据,从而进行产品测试并检测各测试机台的状态;完成上述便携式电子装置测试系统的组装并开启上述便携式电子装置测试系统中数据处理器及各测试机台的电源;对上述便携式电子装置测试系统进行初始化;将待测试的便携式电子装置置于各测试机台内,进行产品测试工作;各测试机台将测试数据统一传送至数据处理模块进行分析处理,得出测试结果并检测各测试机台的状态。
与现有技术相比,本发明提供的便携式电子装置测试系统中多个测试机台只需连接到同一个数据处理器,结构简单,便于组装;本发明提供的便携式电子装置测试方法使用同一个数据处理器即可同时控制多个测试机台进行产品测试工作,安装测试程序及设置测试参数可以在该数据处理器上统一设置,明显地节省了劳动时间,同时便于通过相互比较来检测各测试机台的状态。
附图说明
图1为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例的结构方块图。
图2为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例中数据处理器的功能模块图。
图3为本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例中任一测试机台与数据处理器相连接的方块图。
图4为本发明便携式电子装置测试方法较佳实施例的工作步骤流程图。
具体实施方式
请参阅图1,本发明便携式电子装置测试系统较佳实施例包括一数据处理器1及若干测试机台2。数据处理器1为计算机等数据处理装置,该数据处理器1与所有测试机台2连接。
请参阅图2,数据处理器1包括一网卡10、一输入/输出模块11、一数据库模块12、一数据处理模块13、一指令模块14及一显示模块15。网卡10将各测试机台2同时与数据处理器1连接,使数据处理器1与所有测试机台2构成一局域网。输入/输出模块11用于在数据处理器1与各测试机台2之间传输数据及指令。数据库模块12用于安装初始测试程序、设置及储存测试参数。数据处理模块13用于处理各测试机台2采集的测试数据,进行产品测试并同时检测各测试机台2的状态。指令模块14用于对各测试机台2进行远程控制。显示模块15用于显示测试结果及各测试机台2的状态。
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