[发明专利]碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法

权利要求书

1.一种碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其测量的碳纳米管阵列中碳纳米管间具有一定的间隙，该测量方法包括：

提供一毫牛测力计，该测力计具有一个测力臂，该测力臂的末端固定一测力探针，该测力探针具有平整的测力端面；

在测力探针的测力端面上涂覆一层粘性胶；以及

将涂覆有粘性胶的测力端面逐渐靠近待测的碳纳米管阵列的表面并紧密接触，然后将测力探针逐渐拔离碳纳米管阵列表面，测力探针的测力端面将粘附一定数量的碳纳米管，通过测力计显示的力的数值以及拔出的碳纳米管的数量即可以得出碳纳米管阵列与其附着的基底的结合力大小。

2.如权利要求1所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的测力探针为细丝，细丝的末端面经过抛光处理作为平整光滑的测力端面。

3.如权利要求2所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的细丝末端的截面直径不小于200微米。

4.如权利要求3所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的测力探针为直径为500微米的钨丝。

5.如权利要求1所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的测力探针为条状体，其具有平整的末端面以作为测力端面且末端面的尺寸不小于150×150微米。

6.如权利要求5所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的测力探针为切成长条形状的硅片。

7.如权利要求1所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的测力探针通过粘性胶固定在所述的测力臂的末端。

8.如权利要求1所述的碳纳米管阵列与基底结合力的测量方法，其特征在于，所述的碳纳米管阵列包括多个呈矩形方阵形式排列的小单元，各单元之间具有间隙且各单元的截面尺寸为50微米×50微米。