[发明专利]通过非晶硅X射线探测器进行电磁辐射探测的系统和方法无效
| 申请号： | 200610064460.6 | 申请日： | 2006-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN101190130A | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | P·K·库恩;P·T·安德森;J·R·兰伯蒂 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01T1/161;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;陈景峻 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通过 非晶硅 射线 探测器 进行 电磁辐射 探测 系统 方法 | ||
1.一种用于探测成像系统(100)中的电磁场的方法，所述方法包括：
利用电磁发射器(150)来发射电磁场(160)；
利用成像系统探测器(120，200)来检测电磁场(160)，该成像系统探测器(120，200)能够读取物体图像，该成像系统探测器(120，200)能够读取场图像；以及
至少部分地基于电磁场(160)来从探测器(120，200)读取场图像。
2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括至少部分地基于场图像来确定手术设备、仪器和工具中至少一个的位置。
3.根据权利要求1所述的方法，其中电磁发射器(150)具有发射模式和非发射模式，电磁发射器(150)当处于发射模式时发射电磁场(160)，以及电磁发射器(150)当处于非发射模式时不发射电磁场(160)。
4.根据权利要求3所述的方法，其中协调场图像的读取以当电磁发射器(150)处于发射模式时发生。
5.根据权利要求3所述的方法，进一步包括从探测器(120，200)中读取物体图像，其中协调物体图像的读取以当电磁发射器(150)处于非发射模式时发生。
6.根据权利要求3所述的方法，进一步包括至少部分地基于场图像和物体图像来调整手术导航系统的电磁模型。
7.一种用于提高成像系统(100)中的图像质量的装置，所述装置包括：
成像系统探测器(120，200)，所述探测器(120，200)能够采集第一场图像、第二场图像和物体图像；以及
图像处理部件(130，230)，所述图像处理部件(130，230)与所述探测器(120，200)进行通信，其中所述图像处理部件(130，230)至少部分地基于第一场图像和第二场图像中的至少一个来调整物体图像。
8.根据权利要求7所述的装置，其中第一场图像和第二场图像中的至少一个至少部分地基于由探测器(120，200)所探测到的电磁场(160)。
9.根据权利要求8所述的装置，其中第一场图像与第二场图像不同，这至少部分地基于金属在由成像系统(100)所成像的物体(140)中的存在。
10.根据权利要求9所述的装置，其中当由探测器(120，200)探测到金属时，图像处理部件(130，230)利用金属伪影减少算法来处理物体图像。
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