[发明专利]一种铁基体上镍镀层的无损测厚方法

权利要求书

1.一种铁基体上镍镀层的无损测厚方法，其特征在于：包括标定和实测两个过程：

在标定过程，它包括如下步骤：

a.选择若干块由铁基体和铁基体上的镍镀层构成的试样，各试样的铁基体材质、厚度相同，镍镀层厚度不相同；

b.用涡流传感器对试样中镀有镍层的一面进行检测，涡流传感器的激励线圈由波形发生器所发出的一个预置信号激励，该激励信号透过镍镀层在铁基体所产生的涡流感应信号由涡流传感器的检测线圈拾取；

c.涡流传感器的检测绕组线圈拾取的涡流感应信号经前置放大、相敏检波、相位旋转、数控放大后由模/数接口送入计算机系统；

d.在计算机系统内涡流传感器的检测绕组线圈拾取的涡流感应信号被处理成与镍镀层已知厚度相对应的数据；

e.用涡流传感器分别对不同试样中镀有镍层的一面进行检测，重复步骤b至d，得到若干镍镀层的不同已知厚度所一一对应的数据；

f.由计算机系统将获得的镍镀层的不同已知厚度所一一对应的数据处理成以所述数据为变量的与镍镀层的厚度相对应的函数表达关系；

在实测过程，它包括如下步骤：

g.用前述具有激励线圈和检测线圈的涡流传感器对实测物件的铁基体上镍镀层的一面进行探测，涡流传感器的激励线圈由波形发生器所发出的一个预置信号激励，该激励信号透过镍镀层在铁基体所产生的复合电磁感应信号由涡流传感器的检测线圈拾取；

h.涡流传感器的检测线圈拾取的实测物件的涡流感应信号经前置放大、相敏检波、相位旋转、数控放大后由模/数接口送入计算机系统；由计算机系统将涡流传感器的检测线圈拾取的实测物件的涡流感应信号处理成对应的数据；

i.在计算机系统内，上一步骤所述对应的数据被带入以数据为变量的与镍镀层的厚度相对应的函数表达关系中，进而获得实测物件的镍镀层的厚度。

2.根据权利要求1所述的一种铁基体上镍镀层的无损测厚方法，其特征在于：还包括修正：

在各试样的铁基体的导电/导磁性不同时，先用涡流传感器测试不同铁基体的电磁感应基准值，并在加镀层后的检测值中予以修正；

对于表面变化曲率较大的被测物，通过制作不同的试块进行测试，建立相关曲线，对检测结果进行修正。