[发明专利]较佳操作条件检出方法无效
申请号: | 200610072356.1 | 申请日: | 2006-04-14 |
公开(公告)号: | CN101055741A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 蔡昇龙 | 申请(专利权)人: | 精碟科技股份有限公司 |
主分类号: | G11B7/26 | 分类号: | G11B7/26 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 操作 条件 检出 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种操作条件检出方法,特别是涉及一种应用于制造光资讯储存媒体的较佳操作条件检出方法。
背景技术
由于数位多媒体的高度发展,对于光资讯储存媒体容量的要求也相对加大,故使光资讯储存媒体的预录轨距(track pitch)与讯坑(pre-pit)皆大幅缩小,使预刻沟轨讯号及预录讯坑讯号的品质成为目前对光资讯储存媒体需求的重要条件之一。
就预录讯坑讯号及预刻沟轨讯号而言,都是在制作母版时就已定型,故母版在制造光资讯储存媒体的过程中占有重要的地位;在现有习知技术中的母版制作过程中,母版主要材料为玻璃基板,首先,在玻璃基板准备前制作业(resist mastering preparation,R.M.P制程),将玻璃基板涂布光阻剂以作为刻板机讯号刻录的基材,即形成准备好的玻璃基板,再经过激光刻板作业(laser beam recorder,L.B.R制程),即刻板、显影化及金属化,形成刻有资料的玻璃基板,最后经由母版电铸作业(galvanic,GAL.制程),形成母版。
在母版制作过程之后,经由后续的薄膜制程处理,则完成最终的光资讯储存媒体,并利用检测以维护光资讯储存媒体的品质。
由于在激光刻板作业的刻板制程中,是利用编码机输入刻板资料,再经由编码产生预录讯坑讯号刻蚀及预刻沟轨讯号,并输入至刻板机,以将预录讯坑讯号刻蚀及预刻沟轨讯号刻蚀于玻璃基板上,此时玻璃基板上已经具有不能改变的资料,故母版上亦为已固定的资料,倘若在检测光资讯储存媒体时,发现光资讯储存媒体的品质不良,则必须丢弃原来的母版,并重新使用玻璃基板,改变刻板资料,重复母版制作过程以得到新的母版,如此重复上述过程,直到制得好的光资讯储存媒体品质。
但是,为得到好的光资讯储存媒体品质,而一再重复玻璃基板制作母版的过程,并将品质不好的母版丢弃,且一次的制程后的检测,仅得到一种刻板资料的检测结果,如此,不但提高制造成本,更浪费制程时间,且玻璃基板及母版的使用率则大大降低。
由此可见,上述现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法在与使用上显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般方法又没有适切的方法能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。因此,如何提供一种能够解决上述问题的较佳操作条件检出方法,正是当前的重要课题之一,亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法存在的缺陷,本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识,并配合学理的运用,积极加以研究创新,以期创设一种新的较佳操作条件检出方法,能够改进一般现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法,使其更具有实用性。经过不断的研究、设计,并经反复试作及改进后,终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于,克服现有的光资讯储存媒体操作条件检出方法存在的缺陷,而提供一种能够避免重复无谓的母版制程,而可以得到最佳操作条件来制造适用的母版的较佳条件检出方法。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种较佳操作条件检出方法,是用于制造一光碟片,其包括下列步骤:输入复数组操作条件至一编码机;由该编码机依据该复数组操作条件控制一刻板机分别刻蚀(ablation)一玻璃基板的复数个区域;检测该等区域以得到相对应的复数个检测结果;以及依据该等检测结果取得最佳的该复数组操作条件之一。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的较佳操作条件检出方法,其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤:检测该等区域的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状,以取得相对应的该等检测结果。
前述的较佳操作条件检出方法,其中所述的几何形状是为沟轨的宽度或讯坑的宽度和长度。
前述的较佳操作条件检出方法,其中所述的玻璃基板是用以制造该光碟片的基板。
前述的较佳操作条件检出方法,其中所述的检测该等区域的步骤是检测该光碟片的基板以取得相对应的该等检测结果。
前述的较佳操作条件检出方法,其中所述的检测该等区域的步骤包括下列步骤:检测该光碟片的基板的错误抖动偏差值(jitter)、不对称性、沟轨的资讯振幅大小值、或几何形状,以取得相对应的该等检测结果。
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