[发明专利]光盘机测试系统无效

专利信息
申请号: 200610074042.5 申请日: 2006-04-04
公开(公告)号: CN101051474A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 朱修明 申请(专利权)人: 广明光电股份有限公司
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G01R31/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王志森;黄小临
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光盘 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种光盘机测试装置,包含:

一连接器,设于光盘机,包括信号区与电源区,信号区含有信号线与接地线,电源区含有两电源线、两接地线、一连接检测线及一制造测试线;

一中央处理器,设于该光盘机中,含两测试连接脚、信号线及接地线接脚,信号线及接地线接脚一一相对连接至连接器信号区,而一测试连接脚连接于连接器的制造测试线,另一测试连接脚经一切换开关连至连接检测线或电源区的接地线;

一电源回路,设于该光盘机中,包括电源及接地连接点,电源连接点接至连接器两电源线,接地连接点则接至两接地线,且供电给中央处理器;以及

一测试转接器,包含第一连接器、第二连接器及测试单元,第一连接器与第二连接器具有与该光盘机连接器相同的信号区与电源区接脚,该第二连接器连接于该光盘机连接器,测试单元包括两测试点;

其中该第一连接器与第二连接器的各信号区具有信号线与接地线一一相对应连接,各电源区具有两电源线+5V分别对应连接,第二连接器一接地线连接第一连接器的两搭接接地线,另一接地线连接第一连接器的连接检测线,第一连接器的制造测试线形成空接线,测试单元分别连接于第二连接器的连接检测线及制造测试线的接点。

2.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,其中该中央处理器的两测试连接脚为通用输出入连接脚GPIO 1与GPIO 2,连接脚GPIO 1连接至该光盘机连接器连接检测线,连接脚GPIO 2则连接至该光盘机连接器电源区的制造测试线。

3.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,其中该中央处理器的两测试连接脚为通信接口连接脚RXD与TXD,连接脚RXD连接至该光盘机连接器连接检测线,连接脚TXD则连接至该光盘机连接器电源区的制造测试线。

4.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,其中该光盘机连接器两电源线相互搭接,两个接地线也相互搭接。

5.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,其中该第一连接器与第二连接器设于测试转接器的相对侧,而测试单元则设于测试转接器第三侧边。

6.依据权利要求3所述的光盘机测试装置,其中该测试单元的测试点为两个通用输出入连接脚,即测试点GPIO 1连接至第二连接器的连接检测线,测试点GPIO 2连接至第二连接器的制造测试线。

7.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,其中该测试单元进一步包括电源线与接地线两个接点,电源线接点连接至第一连接器与第二连接器间的电源线,接地线接点则连接至第一连接器与第二连接器间电源区的接地线。

8.依据权利要求4所述的光盘机测试装置,其中该测试单元的测试点为两个通信接口连接脚,即测试点RXD连接至第二连接器的连接检测线,测试点TXD连接至第二连接器的制造测试线。

9.依据权利要求1所述的光盘机测试装置,进一步包含一主机,主机具有一SATA接口的连接器连接于该第一连接器。

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