[发明专利]画素结构、主动元件阵列基板及其液晶显示面板无效
申请号: | 200610076735.8 | 申请日: | 2006-04-18 |
公开(公告)号: | CN101059629A | 公开(公告)日: | 2007-10-24 |
发明(设计)人: | 吴创锋 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/136 | 分类号: | G02F1/136;G02F1/133;G02F1/1335;H01L29/786 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 主动 元件 阵列 及其 液晶显示 面板 | ||
技术领域
本发明是有关于一种画素结构、主动元件阵列基板以及液晶显示面板,且特别是有关于一种可作雷射修补的画素结构、主动元件阵列基板以及其液晶显示面板。
背景技术
薄膜电晶体液晶显示器(TFT LCD)包括薄膜电晶体液晶显示面板以及背光模组,而薄膜电晶体液晶显示面板主要是由薄膜电晶体阵列基板、彩色滤光阵列基板和液晶层所构成。其中,薄膜电晶体阵列基板是由多数以阵列排列的薄膜电晶体,以及与每一个薄膜电晶体对应配置的画素电极(pixelelectrode)所组成。薄膜电晶体是用来作为画素单元的开关元件,而为了控制个别的画素,通常藉由与薄膜电晶体电性连接的扫描配线(scan line)与资料配线(date line)来选取特定的画素,并对其施以适当的操作电压,以显示对应此画素的显示资料。
请参阅图1所示,是习知薄膜电晶体阵列基板的结构示意图。请参阅图1所示,习知薄膜电晶体阵列基板100包括一基板(未绘示)、多条扫描配线110、多条资料配线120、多条共用配线130(图中仅绘示一条)、多个薄膜电晶体140以及多个画素电极150。其中,扫描配线120与资料配线130是配置于基板上,且于基板上划分出多个呈阵列排列的画素区域125,而共用配线130实质上平行配置于基板上,且相邻两共用配线130之间配置有一扫描配线110。各共用配线130具有向外延伸的多条分支132。此外,薄膜电晶体140分别配置于画素区域125内,且各薄膜电晶体140是电性连接至其所对应的扫描配线110与资料配线120。
承上所述,虽然薄膜电晶体阵列基板100的生产技术已趋成熟,但在薄膜电晶体阵列基板100的制造过程中难免会产生一些瑕疵,如异物或残留物等,其容易导致共用配线130的分支132与部分画素结构中的画素电极150电性连接(如图1中的点A处),因而形成瑕疵画素结构160。由于这些与共用配线130的分支132电性连接的画素电极150和彩色滤光基板的共用电极之间无电压差,所以无法驱使液晶分子转动。如此,将导致薄膜电晶体液晶显示器在显示时会出现坏点(即亮点或暗点),因而影响显示品质。
由于显示器在显像时这些坏点会造成感官上的不适,若直接报废丢弃这些有瑕疵的显示面板,将会使得制造成本大幅增加。一般来说,只依赖改善制程技术来实现零瑕疵率是非常困难的,因此液晶显示面板的瑕疵修补技术变得相当的重要。然而,因雷射有熔接及切割的作用,当欲以雷射修补的技术沿着路径B来切割分离此瑕疵画素结构160中的共用配线130与电性连接至画素电极150的分支132时,雷射亦会使画素电极150与共用配线130熔接在一起,使得瑕疵画素结构160中的画素电极150与彩色滤光基板的共用电极之间仍然没有电压差。因此,在习知薄膜电晶体阵列基板100中,当画素电极150与共用配线130的分支132电性连接时,无法进行雷射修补。
发明内容
本发明的目的是提供一种画素结构,以解决共用配线的分支与画素电极电性连接时,无法进行雷射修补的问题。
本发明的另一目的是提供一种主动元件阵列基板,以使共用配线的分支与画素电极电性连接时,无法进行雷射修补的问题获得改善。
本发明的又一目的是提供一种液晶显示面板,其主动元件阵列基板的共用配线的分支与画素电极电性连接时,可进行雷射修补。
为达上述或是其他目的,本发明提出一种画素结构,其包括一基板、一扫描配线、一资料配线、一共用配线、一主动元件以及一画素电极。扫描配线、共用配线资料配线皆配置于基板上,且资料配线与扫描配线于基板上划分出一画素区域。共用配线实质上平行于扫描配线,且此共用配线的两侧具有向外延伸的多个分支。此外,主动元件与画素电极皆配置于画素区域内,其中主动元件电性连接至扫描配线与资料配线,而画素电极电性连接至主动元件。另外,此画素电极具有二缺口,以暴露出共用配线与分支的交接处。
在本发明的一实施例中,上述的分支例是紧邻于画素区域平行于资料配线的一对边。
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