[发明专利]一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法无效
| 申请号： | 200610085910.X | 申请日： | 2006-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN1862274A | 公开（公告）日： | 2006-11-15 |
| 发明（设计）人： | 梁华国;刘军;蒋翠云;王伟;李扬;易茂祥;欧阳一鸣 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人： | 何梅生 |
| 地址： | 230009*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 扫描 大规模集成电路 测试 数据压缩 方法 | ||
【说明书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学，未经合肥工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610085910.X/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
