[发明专利]电子发射源及应用其的场发射显示器无效

专利信息
申请号: 200610086779.9 申请日: 2006-06-26
公开(公告)号: CN101097822A 公开(公告)日: 2008-01-02
发明(设计)人: 罗吉宗;郑健民 申请(专利权)人: 大同股份有限公司
主分类号: H01J1/30 分类号: H01J1/30;H01J29/04;H01J31/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子 发射 应用 显示器
【权利要求书】:

1、一种电子发射源,其特征在于,是包括:

一基板;以及

一具有片状结构的类钻碳膜层,是沉积于该基板表面;

其中,该类钻碳膜层的片状结构是排列于该基板表面以形成一花瓣图案,且该片状结构的侧面高度是介于0.5μm至4.0μm之间。

2、如权利要求1项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该基板是为半导体材料、金属材料、绝缘材料或玻璃材料。

3、如权利要求1项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构是为弯曲片状结构、长条片状结构、或其组合。

4、如权利要求1项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.1μm之间。

5、如权利要求4项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.05μm之间。

6、如权利要求1项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的侧面高度是介于0.9μm至2.0μm之间。

7、一种电子发射源,其特征在于,是包括:

一基板;

一导电层,是形成于该基板表面;以及

一具有片状结构的类钻碳膜层,是沉积于该导电层表面;

其中,该类钻碳膜层的片状结构是排列于该导电层表面以形成一花瓣图案,且该片状结构的侧面高度是介于0.5μm至4.0μm之间。

8、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该基板是为半导体材料、金属材料或玻璃材料。

9、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该导电层是为氧化铟锡、氧化锌、氧化锌锡、或金属材料、或合金材料。

10、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构是为弯曲片状结构、长条片状结构、或其组合。

11、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.1μm之间。

12、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.05μm之间。

13、如权利要求7项所述的电子发射源,其特征在于,其中,该片状结构的侧面高度是介于0.9μm至2.0μm之间。

14、一种场发射显示器,其特征在于,是包括:

一含有一萤光粉层、与一阳极层的上基板;以及

一含有一电子发射层、与一阴极层的下基板,且该电子发射层是紧邻于该阴极层;

其中,该电子发射层是包括多数个微米级片状结构的类钻碳,该片状结构是具有一介于0.5μm至4.0μm间的侧面高度,且该等片状结构的类钻碳是于该基板表面排列成一花瓣图案。

15、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,其中,该片状结构是为弯曲片状结构、长条片状结构、或其组合。

16、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.1μm之间。

17、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,其中,该片状结构的厚度是介于0.005μm至0.05μm之间。

18、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,其中,该片状结构的侧面高度是介于0.9μm至2.0μm之间。

19、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,还包括一栅极层,是介于该阴极板与该阳极板之间,且该栅极层是为多数个栅极。

20、如权利要求14项所述的场发射显示器,其特征在于,其中,该上基板还包括一遮光层,且该遮光层是密接于该萤光粉层旁。

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