[发明专利]低成本高性能有机场效应晶体管及制备方法无效

专利信息
申请号: 200610089591.X 申请日: 2006-07-05
公开(公告)号: CN101101967A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 于贵;狄重安;徐新军;刘云圻;孙艳明;王鹰;朱道本 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/40
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 100080北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 低成本 性能 有机 场效应 晶体管 制备 方法
【权利要求书】:

1、一种低成本高性能有机场效应晶体管,为下电极结构,包括衬底、栅极电极、绝缘层、源漏电极和有机半导体;其特征在于,源漏电极,是由具有低功函的材料构成,包括银或铜,在源漏电极和有机半导体的接触面形成有有机电荷转移复合盐层。

2、一种如权利要求1所述的有机场效应晶体管的制备方法,先按常规在衬底上顺序沉积栅极电极和绝缘层,再制作源漏电极;其特征在于,后续包括以下步骤:

第一步,源漏电极的沉积:

将沉积有栅极电极和绝缘层的衬底,用去离子水、乙醇、丙酮超声清洗后烘箱烘干,然后经十八烷基氯硅烷(OTS)修饰,之后用正庚烷、乙醇、丙酮超声清洗,然后制备至少一层金属银或铜,构成源漏电极;

第二步,源漏电极的修饰:

将7,7,8,8-四氰基醌二甲烷(TCNQ)的乙腈溶液滴于沉积好电极的绝缘层上,1~5秒后甩干,然后经乙腈冲洗后,得到修饰后具有有机电荷转移复合盐层的源漏电极;

第三步,有机半导体材料的沉积:

将制备好下电极结构的晶体管上,采用有机物成膜方法得到厚度为10~150纳米的有机层;

第四步,器件测试:

将制备好的下电极结构有机场效应晶体管,在大气环境下室温测试后,得成品。

3、如权利要求2所述的有机场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述第一步中,制备至少一层金属,是用真空热蒸镀、磁控溅射、等离子体增强的化学气相沉积或印刷各种沉积方法中的一种,制备至少一层金属银或铜。

4、如权利要求2或3所述的有机场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述金属银或铜层,其厚度为30~300纳米。

5、如权利要求2所述的有机场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述烘箱烘干,是于393K温度下烘干。

6、如权利要求2所述的有机场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述7,7,8,8-四氰基醌二甲烷(TCNQ)的乙腈溶液,其浓度为0.1mM~20mM。

7、如权利要求2所述的有机场效应晶体管的制备方法,其特征在于,所述有机层,是由有机小分子材料、高分子聚合物材料或它们的混合物构成;成膜方法,是用真空蒸镀、甩膜、滴膜、印刷各种方法中的一种。

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