[发明专利]信息记录介质和信息记录装置及方法无效

专利信息
申请号: 200610100734.2 申请日: 2004-10-01
公开(公告)号: CN101101761A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: 村松英治;谷口昭史;堀川邦彦;加藤正浩;铃木敏雄;黑田和男 申请(专利权)人: 日本先锋公司
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/0045;G11B7/24
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 孙志湧;陆锦华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息 记录 介质 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种盘形信息记录介质,至少包括:

第一记录层,其具有第一测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对记录激光进行校准的第一测试写入信息测试写入到其中;以及

第二记录层,从激光的照射侧来看,其位于所述第一记录层的后面,并且具有第二测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对激光进行校准的第二测试写入信息测试写入到其中,其中

从所述信息记录介质的法线方向来看,第一测试写入区和第二测试写入区在所述信息记录介质的径向上彼此远离,

第一测试写入区中,在写入第一测试写入信息的每个操作中,在第一记录层的轨道路径的相反方向上依次使用预定尺寸的区域部分,并且

第二测试写入区中,在写入第二测试写入信息的每个操作中,在第二记录层的轨道路径的相反方向上使用预定尺寸的区域部分。

2.根据权利要求1的信息记录介质,其中

所述第一记录层还具有:第一记录区,用于通过使激光照射到其上,来将第一记录信息记录到其中;以及第一控制信息区,在其中记录有用于对第一记录信息的记录操作和重放操作中的至少一个进行控制的第一控制信息,其中从内圆周侧依次排列第一测试写入区、第一控制信息区以及第一记录区,并且

所述第二记录层还具有:第二记录区,用于通过使激光照射到其上,来将第二记录信息记录到其中;以及第二控制信息区,在其中记录有用于对第二记录信息的记录操作和重放操作中的至少一个进行控制的第二控制信息,其中从内圆周侧依次排列第二测试写入区、第二控制信息区以及第二记录区。

3.一种用于将信息记录到盘形信息记录介质上的信息记录装置,该信息记录介质至少包括:第一记录层,其具有第一测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对记录激光进行校准的第一测试写入信息测试写入到其中;以及第二记录层,从激光的照射侧来看,其位于所述第一记录层的后面,并且具有第二测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对激光进行校准的第二测试写入信息测试写入到其中,其中从所述信息记录介质的法线方向来看,第一测试写入区和第二测试写入区在所述信息记录介质的径向上彼此远离,

所述信息记录装置包括:

第一测试写入设备,用于通过在第一记录层的轨道路径的相反方向上依次使用预定尺寸的区域部分,来将第一测试写入信息测试写入到第一测试写入区中;

第二测试写入设备,用于通过在第二记录层的轨道路径的相反方向上依次使用预定尺寸的区域部分,来将第二测试写入信息测试写入到第二测试写入区中;以及

记录设备,用于将信息记录到所述第一记录层或所述第二记录层中。

4.一种用于将信息记录到盘形信息记录介质上的信息记录方法,该信息记录介质至少包括:第一记录层,其具有第一测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对记录激光进行校准的第一测试写入信息测试写入到其中;以及第二记录层,从激光的照射侧来看,其位于所述第一记录层的后面,并且具有第二测试写入区,用于通过使激光照射到其上,来将对激光进行校准的第二测试写入信息测试写入到其中,其中从所述信息记录介质的法线方向来看,第一测试写入区和第二测试写入区在所述信息记录介质的径向上彼此远离,

所述信息记录方法包括:

第一测试写入处理,用于通过在第一记录层的轨道路径的相反方向上依次使用预定尺寸的区域部分,来将第一测试写入信息测试写入到第一测试写入区中;

第二测试写入处理,用于通过在第二记录层的轨道路径的相反方向上依次使用预定尺寸的区域部分,来将第二测试写入信息测试写入到第二测试写入区中;以及

记录处理,用于将信息记录到所述第一记录层或所述第二记录层中。

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