[发明专利]闪速存储器的回收方法无效
申请号: | 200610106123.9 | 申请日: | 2006-07-20 |
公开(公告)号: | CN101110058A | 公开(公告)日: | 2008-01-23 |
发明(设计)人: | 何纯淳 | 申请(专利权)人: | 何纯淳 |
主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 韩宏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 回收 方法 | ||
1.一种闪存的回收方法,包括下列步骤:
扫描一闪存中坏区块的分布状况;
查看该闪存中坏区块数量是否超过预设于该闪存内部固件的一坏区块限制数量;
当该闪存中坏区块数量超过预设于该闪存内部固件的该坏区块限制数量时,重新分配该闪存的若干个存储单元中的区块,且将该若干个存储单元中的坏区块划分在一新的存储单元中,以形成一坏区块密集分布的存储单元;
将该坏区块密集分布的存储单元标示为不再使用的存储单元;
记录坏区块的分布位置,并储存在该闪存中;以及
重新格式化该闪存,将通用串行总线配置数据、主引导记录和文件分配表写入该闪存。
2.根据权利要求1所述的回收方法,该闪存为以下种类之一:NAND型闪存、NOR型闪存、单级单元闪存、多级单元闪存。
3.根据权利要求1所述的回收方法,该坏区块密集分布的状态可以是坏区块超过存储单元的区块总数85%。
4.一种闪存的回收方法,包括下列步骤:
扫描一闪存中坏区块的分布状况;
查看该闪存中坏区块数量是否超过预设于内部固件的一坏区块限制数量;
若该闪存中的坏区块数量超过该坏区块限制数量,重新规划至少一个存储单元的区块数量,且将坏区块集中规划在至少一新的存储单元,该至少一新的存储单元形成一坏区块密集分布的存储单元;将该坏区块密集分布的存储单元标示为不再使用的存储单元;记录坏区块的分布位置,储存在该闪存中;以及
格式化该闪存,将通用串行总线配置数据、主引导记录和文件分配表写入闪存。
5.根据权利要求4所述的回收方法,该闪存为以下种类之一:NAND型闪存、NOR型闪存、单级单元闪存、多级单元闪存。
6.根据权利要求1所述的回收方法,该坏区块密集分布的状态可以是坏区块超过存储单元的区块总数85%。
7.一种闪存的回收方法,包括下列步骤:
扫描一闪存中坏区块的分布状况;
查看该闪存中坏区块数量是否超过预设于内部固件的一坏区块限制数量;
若该闪存中的坏区块数量超过该坏区块限制数量,将闪存中的内部固件的坏区块限制数量重设,并以动态的方式设定每一存储单元的坏区块限制数量,并将其储存在闪存的内部固件内;以及
格式化该闪存,将通用串行总线配置数据、主引导记录和文件分配表写入闪存。
8.根据权利要求7所述的回收方法,该闪存为以下种类之一:NAND型闪存、NOR型闪存、单层单级单元闪存、多级单元闪存。
9.根据权利要求7所述的回收方法,该坏区块密集分布的状态可以是坏区块超过存储单元的区块总数85%。
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