[发明专利]由微处理器产生模拟信号进行故障电弧自检的方法

权利要求书

1.一种由AFCI(Arc-Fault Circuit-Interrupter)的微处理器U2产生模拟信号来进行故障电弧自检的方法。当需要对AFCI的故障电弧检测功能进行自检时，由微处理器U2产生一组故障电弧的模拟脉冲信号，由反馈电路R26和D11送到信号采样的输入端，经运算放大器U1放大整形后，将该模拟脉冲信号送回微处理器U2的输入端，由程序来进行判断和处理，并驱动脱扣电路动作，完成AFCI故障电弧的自检过程。

2.如权利要求1所述，当需要对系统进行自检时，按下测试按钮AN，微处理器U2的P0.5口电平由高变低。

3.如权利要求2所述，微处理器U2的程序在运行中不断扫描P0.5口的电平，当P0.5口电平为低时，微处理器U2运行程序在其输出口P3.1产生一组故障电弧的模拟脉冲信号。

4.如权利要求3所述的故障电弧的模拟脉冲信号由反馈电路R26和D11送到AFCI信号采样的输入端，经运算放大器U1进行放大处理后，其输出信号由三极管Q1进行电平转换并反相后送入微处理器U2的计数器输入端P1.2口。

5.微处理器U2的故障电弧诊断程序对权利要求4所述的反馈信号进行判别、计数和计时，确认为故障电弧后，由微处理器U2的P3.0口输出一个控制信号来触发可控硅KC，使可控硅KC导通，脱扣线圈TK得电，执行脱扣动作断开电源，完成系统故障电弧的自检过程。

6.如权利要求1所述，由AFCI的微处理器U2产生模拟信号来进行故障电弧自检的方法，可用来检测AFCI是否能正常工作。该自检过程，检测了AFCI的故障电弧信号处理通道、微处理器U2的故障电弧诊断程序、可控硅执行电路及系统的机械脱扣部分。