[发明专利]具多界面的快闪存储卡测试器具无效

专利信息
申请号: 200610108447.6 申请日: 2006-08-04
公开(公告)号: CN101118512A 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 陈本慧 申请(专利权)人: 群联电子股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 界面 闪存 测试 器具
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种记忆存储卡的测试装置,尤其涉及一种具有多个界面的快闪存储卡的测试器具,该器具用于计算机存储卡的测试领域。

背景技术

目前闪存的技术有着快速地成长,近年来业者不断开发更大容量的闪存,如MP3播放器、个人数字助理、数字相机或数字摄影机等多媒体装置及手机等通讯装置几乎皆设有存储卡。另外,现今市面上一般的影音播放装置的本体内亦至少设立有控制芯片、闪存于其内,其中该闪存可应用于数字影音译码及录音上使用,用以将计算机的影音资料供使用者下载,并可由影音播放装置进行播放数字音乐使用,另外,市面上亦有一种资料储存装置内单纯利用闪存使用的产品,此种产品仅提供消费者增加除计算机外的资料记忆使用,且亦可随意插拔于计算机上进行读取或存取资料使用,因此自从闪存问世已来即受到广大消费者的青睐,而成为一种几乎不可或缺的使用工具。

但是,上述闪存的应用则因不同厂商或是需求,则存在不同类型、不同尺寸规格的存储卡,然而目前市面上大致具有MMC卡(Multi Media Card)、CF卡(Compact FlashCard)、SMC卡(Smart Media Card)、MS卡(Memory Stick)及SD卡(Secure Digital Memory Card)等规格。

快闪存储卡在出厂时,需要用快闪存储卡的测试器具来测试闪存的瑕庇,因此在生产流程上就必须完全依据测试器具的设计来规划,若测试器具设计不良,不仅不方便也浪费更多的工时与生产成本,且针对上述不同规格的快闪存储卡,生产快闪存储卡的厂商更需要利用不同规格的测试器具来检测不同规格的快闪存储卡;然而针对闪存越来越多样的应用,快闪存储卡的容量、界面和功能的设计发展也越来越繁复,因此对于生产快闪存储卡的厂商而言,要兼顾大量生产不同界面的快闪存储卡以及同时保证大量生产时的品质,则是一个严肃的课题。

缘此,上述现有技术的不足,便为从事此行业者所亟欲改善的课题,而有待相关业者作进一步改进与创新设计的必要。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种具多界面的快闪存储卡测试器具,该器具利用连接界面转接板可外接有不同界面的快闪存储卡,因此快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上并利用不同的测试电路板及连接界面转接板,来测试不同界面的快闪存储卡,以节省测试不同界面的快闪存储卡所设置的器具成本。

另外,本发明的次要目的在于提供的具多界面的快闪存储卡测试器具,其测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面,因此当有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时,将可单独将该元件进行更换,因此不需将测试器具主体进行修缮,藉此将可大幅减少测试器具主体的维修时间及经费的功效。

为达成上述目的,本发明采用的技术手段如下:

一种具多界面的快闪存储卡测试器具,其特征是,于测试器具上设有一个或一个以上的连接界面转接板,且该连接界面转接板可通过连接界面与测试电路板成电性相连。

其中该测试电路板设有测试控制电路及控制此电路的程序。该测试控制电路由微处理器、短路检测电路、存储卡电源供应电路及存储卡插槽所构成。该微处理器设有存储卡种类检测脚。该测试电路板设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面。该连接界面转接板设有测试电路板连接界面、连接界面转换电路及快闪存储卡连接界面。该连接界面转接板与快闪存储卡相连接,并通过连接界面将测试信号传送至测试电路板连接界面。该连接界面转接板设有电源标示、测试正常标示、测试中标示或测试失败标示。

通过上述技术特征,本发明与现有技术比较具下列优点:

(一)本发明利用测试电路板通过连接界面与连接界面转接板相耦接,且连接界面转接板可进一步外接不同界面的快闪存储卡,因此快闪存储卡测试者可在同一测试器具主体上利用不同的测试电路板及连接界面转接板,来测试不同界面的快闪存储卡,以节省设置不同界面的快闪存储卡器具的成本。

(二)本发明通过连接界面转接板上的电源标示、测试正常标示、测试中标示及测试失败标示或是通过操作系统或操作系统内建的应用程序,快闪存储卡测试者将可以快速明了快闪存储卡测试后的结果,并明确掌握测试器具主体的运作状态。

(三)该测试电路板可设有一个或一个以上的快闪存储卡的控制界面,因此该测试器具主体将可针对复数的快闪存储卡同时进行测试,且当若有单数的测试电路板或连接界面转接板损坏时,将可单独将该元件进行更换,因此不需将测试器具主体进行修缮,藉此将可大幅减少测试器具主体的维修时间及经费。

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