[发明专利]光纤断点的查找方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种光纤断点的查找方法，尤指一种通过比较光的插入损耗来判定光纤断点位置的方法，该方法中还通过一补偿算法对所测值进行补偿，从而提高查找断点的精度。

【背景技术】

为保证系统连接的质量，减少故障因素以及故障时找出光纤的故障点，需要对光纤进行检测。检测的方法有很多，主要分为人工简易测量和精密仪器测量。其中，人工简易测量一般用于快速检测光纤的通断和施工时用来分辨挑选光纤束中的特定光纤。它是用一个简易光源从光纤的一端打入可见光，从另一端观察哪一根发光来实现的。这种方法虽然简便，但它不能定量测量光纤的衰减和光纤的断点。至于精密仪器测量则是使用光功率计或光时域反射仪(OTDR)对光纤进行定量测量，可测出光纤的衰减和接头的衰减，甚至可测出光纤的断点位置。这种测量可用来定量分析光纤网络出现故障的原因和对光纤网络产品进行评价。

另一种量测方法则为背向散射法，其是一种沿光纤长度上测量衰减的方法。当光束沿光纤传播时，由于纤芯折射率的细微不均匀会不断产生瑞利散射，部分散射光会反向回到输入端，即在光纤中，光功率绝大部分为前向传播，但有很少部分会朝发光器背向散射。将激光入射到光纤中，并监测这些反向散射光的强度变化，可以得到沿光纤长度分布的衰减曲线。采用这项技术可以探测光纤中散射系数、损耗及连接点、耦合点、断点等的情况。测量中的反向散射光有两种，一种是瑞利散射光，另一种是光纤断面或光纤连接处产生的菲涅尔反射。在发光器处利用分光器观察背向散射的时间曲线，从一端不仅能测量接入的均匀光纤的长度和衰减，而且能测出局部的不规则性、断点及在接头和连接器引起的光功率损耗。OTDR量测则是基于光的背向散射与菲涅耳反射原理，利用光在光纤中传播时产生的后向散射光来获取衰减的信息。

然，利用OTDR进行断点位置测量存在如下弊端：

1.由于其是通过测量回损的方法来查找信号，当信号偏弱、回损值太小时，就没有办法找到断点；

2.由于光在光纤中因距离远而损耗加大，使得近距离处反射量大，远程反射量小，因而同等材质的光纤在反射量中表现出的数据效果不一，影响最后对断点的判断。

故，有必要提供一种量程远、精度高的光纤断点的查找方法，以解决现有技术所存在的缺陷。

【发明内容】

本发明的主要目的在于提供一种量程远、精度高的光纤断点的查找方法，该方法采用测量光在光纤中的回损值与插损值的综合结果来准确查找光纤中的损耗点。

本发明的另一目的在于提供一种高精度的光纤断点的查找方法，该方法通过对损耗光进行补偿，来提高光纤断点的查找精度。

本发明的再一目的在于提供一种量程远的光纤断点的查找方法，该方法将传统的激光测距仪转移到光纤中，以加大测量距离，从而在较大范围内查找断点的位置，并且通过配合一光纤断点定位算法，在加大测量距离的同时还会提高测量精度。

依据本发明的上述目的，本发明提供一种利用断点定位仪进行光纤断点查找的方法，其包括：断点定位仪发射脉冲信号至光纤；断点定位仪接收来自光纤的反射信号，并对反射信号进行补偿；将补偿后的信号送至一采样电路进行采样，以取得断点定位仪所发射的脉冲信号；以及利用一数据处理电路计算脉冲信号取得时所对应的时间与发射信号发射时的时间差，从而得出光纤断点的位置。

其中对反射信号进行补偿的步骤进一步包括：根据补偿公式对光纤中反射回来的测量值进行补偿，补偿公式为Y1＝Y*10(D*n)，其中，Y为实际测到的反射值，D为距离的公里数，Y1为补偿后的反射值，n为光在单模光纤中传输的损耗量的二倍。

其中将补偿后的信号送至一采样电路进行采样的步骤进一步包括：

步骤一，断点定位仪发送第一宽度的脉冲至光纤，信号从光纤返回后，以第一频率进行采样，得出断点的位置在某一比较大的区域之间；

步骤二，在步骤一得出的区域之内，采用一小于第一宽度的第二宽度的脉冲发射一次信号，信号自光纤返回后，以一大于第一频率的第二频率进行采样，从而得出断点位置在一个更小的区域内；以及

不断重复步骤二，直到最终确定断点的位置。

与现有技术相比，本发明将传统的激光测距仪转移到光纤中，提高了测量量程，并且通过配合一光纤断点定位算法，在加大测量距离的同时还会提高测量精度。另外，本发明还通过对一补偿算法对损耗光进行补偿，从而提高了光纤断点测定的精度。

【附图说明】