[发明专利]一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及光传输技术，特别是涉及一种G.653光纤DWDM(DenseWavelength Division Multiplex，密集波分复用)系统的传输性能测试方法。

背景技术

光纤通信的传输光纤经历了从多模到单模，从G.652->G.653->G.655的发展历程。G.652光纤虽然损耗小，但在1550nm窗口色散大；G.653光纤虽然在1550nm窗口的色散小，但在DWDM系统中容易产生四波混频(Four WaveMixing，FWM)效应，造成严重的传输损伤。目前，日本、拉美等国家铺设了大量的G.653光纤，如何提高DWDM系统在G.653光纤上的传输性能成为一个迫切需要解决的难题。

ITU-T(Telecommunication Standardization Sector of InternationalTelecommunication Union，国际电信联盟电信标准化部门)建议G.653(12/2003)“Characteristics of a dispersion-shifted single-mode optical fibre and cable”里给出了G.653光纤指标要求及典型参数。

G.653A和G.653B关于色散特性的规范非常宽松，见下表1：

G.653光纤的色散典型参数见下表2：

目前，G.653光纤DWDM系统的工作波长优化的研究取得了一些进展。但即使是优化的工作波长，单通道入纤光功率也只能小于某阈值，并且此阈值与跨段数相关。优化的工作波长在特定参数的G.653光纤上性能最好。实际铺设的G.653光纤由不同制造厂商生产，G.653光纤的参数可能稍有差异，同一厂商生产的G.653光纤参数也存在离散性。特定参数G.653光纤优化下的工作波长在其他参数的G.653光纤工作下性能可能劣化较大。

有时为了优化系统传输性能，一方面考虑避免FWM效应而降低单通道入纤光功率，另一方面提高单通道入纤光功率以确保光信噪比合格，在跨段损耗不等的系统中，常常设计成各跨段的单通道入纤光功率不同。

由于DWDM系统中的SRS(Stimulated Raman Scattering，受激拉曼散射)效应，可能发生短波长泵浦长波长的现象，从而导致通道功率相差较大，某些通道可能接近FWM阈值，这可能导致各通道传输性能相差较大。

虽然G.653光纤的色散较小，但在较长距离传输时，传输的业务在10Gb/s速率及以上时，仍需考虑色散补偿。实际工程上，完全色散补偿并不是最优色散补偿，而且各通道的残余色散可能不一致，因此需要衡量各通道的传输性能。

目前验收DWDM系统设备的传输性能时，通常采用长时间误码测试的手段。但是针对G.653光纤DWDM系统而言，可能并不全面。系统可能工作于比较临界的条件，裕量较小。系统有可能在24小时误码测试中顺利通过，但在长期运行中，由于温度、应力等外部环境因素变化造成的光纤线路损耗、色散变化，可能劣化系统传输性能，产生零星误码，甚至无法正常工作。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，用于克服现有技术中的对G.653光纤DWDM系统传输性能测试不够全面的缺点。

为了实现上述目的，本发明提供了一种G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，适用于G.653光纤DWDM系统，其特征在于，包括：

步骤一，选择待测试的典型通道；

步骤二，通过测试得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线；及

步骤三，通过分析所述关系曲线得到所述系统的传输性能测试结果。

所述的G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，其中，所述典型通道包括：零色散波长附近的通道、边缘通道、发送接收技术不同于其他通道的通道。

所述的G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，其中，所述步骤二中，还包括一通过在所述系统中设置一附加可调色散补偿器调节残余色散的步骤。

所述的G.653光纤DWDM系统的传输性能测试方法，其中，所述步骤二中，得到所述典型通道的附加色散与通道代价之间的关系曲线的步骤具体为：

步骤21，设置所述典型通道的附加色散与通道代价的关系的测试配置；