[发明专利]无测试管脚接触式CPU卡测试方法

说明书

技术领域

本发明主要应用于各种程序存储器为电可擦写存储器的接触式CPU卡测试电路中。

背景技术

随着数字化社会的到来，生活中越来越多的会用到各种类型的电子产品，IC卡就是一种与人们日常生活紧密相关的电子产品，其应用场合也相当的多，比如公交卡、SIM卡、银行卡、身份证卡等等。那么对于这样大批量生产的卡类产品在最终交给用户使用前是需要通过一系列的测试来保证产品的功能及性能的正确。而作为芯片的设计者首先应该保证的是芯片硬件功能的正确性。那么就需要有一个这样的测试手段从工厂加工的芯片中筛选出符合我们设计要求的产品提供给用户使用。

而要满足大规模生产中对芯片良品的检出，就应该有一个对整个芯片的功能、性能及可靠性进行测试的电路来完成这个检测工作。而随着产业的逐步发展目前对于测试工作不仅仅是要求可以准确的筛选出良品，更重要的是测试的效率要高、测试的成本要低、测试电路的安全性要高，不能让非法用户通过测试电路来获取芯片硬件及软件的信息，防止非法用户通过窃取到的这些信息对芯片进行攻击从而使合法用户的正当权益收到损害。

发明内容

本发明为解决上述问题，实现程序存储器为电可擦写存储器的接触式CPU卡的功能测试，采用如下方案：

将功能测试程序由IO管脚串行的送入到串行输入寄存器组中，经过并行寄存器组之后将满足程序存储器擦写时序的相应信号送给程序存储器，完成将测试程序下载到程序存储器中的功能。

功能测试程序下载完毕之后，再由CPU运行程序存储器中的测试程序，测试程序在运行的过程中自动比对程序运行的结果是否正确，并将测试结果通过IO管脚再串行的送出，由测试机来监控IO的输出结果，通过这个结果可以判断芯片功能测试是否正确。

将测试电路中关键信号的一小部分放在了划片槽，当芯片减薄划片之后会破坏掉这部分电路，这样就可以保证芯片在出厂之后不会再进入到测试模式了，非法用户就不可能通过测试电路来探测芯片的硬件结构及软件内容。

本发明有如下优点：

1、通过IC的标准管脚完成对芯片的测试功能，既节省的芯片的面积又增加了芯片的安全性。

2、将功能测试程序下载到程序存储器中运行，这样的测试方式与芯片正常运行COS的情况是一样的，这样的测试方式更接近芯片的真实工作状况。

3、功能测试程序在运行的过程中自动比对测试的结果，并且通过测试IO管脚将测试结果送出由测试机比对测试结果的正确性。

4、节省了芯片的面积，提高了测试电路的安全性。

附图说明

图1总体结构框图，图中左方的IO与右方的IO是同一个管脚，是一个双向开漏的管脚，为IC卡的标准管脚。

图2放入划片槽部分的示意图

具体实施方式

图1是本发明的总体结构图，图中示出了各个模块的连接关系。下面结合图1详细说明本发明的一个实施例。

一、以一个字节“F5H”为例介绍它是如何被写入到程序存储器中的：

在芯片的测试模式下使用一个私有传输协议将“F5H”以及“F5H”在测试程序中对应的地址通过IO管脚按位串行送入并写到串行输入寄存器组(1)中，当“F5H”写操作的所有相关位都写到(1)中之后，测试电路会产生一个标志信号，在芯片检测到这个标志信号有效时会将(1)中的所有数据再对应的写入到并行寄存器组(2)中。

此时再将(2)中关于“F5H”的擦写控制信号以及数据和相应地址按照程序存储器的擦写控制时序送入从而完成将“F5H”字节写入到程序存储器(3)中的操作。

二、测试程序的运行以及比对：

依照上述的写入过程可以将功能测试程序依次的写入到(3)中的对应地址，

当所有的测试程序写入完毕之后让芯片进入到功能测试模式并使芯片正常运行在工作模式下，CPU从(3)中读取功能测试程序执行，并且自行比对运行结果。产生测试结果。

三、测试结果的送出：

将上述产生的测试结果送入到串行输出寄存器(4)中，并由双向管脚IO串行的再将测试结果送出。

下面分别介绍各个模块：

串行输入寄存器组(1)，主要是由D触发器构成的移位寄存器组，其作用就是将从IO管脚按位串行输入的对程序存储器(3)写操作的命令暂时存储起来，作为并行寄存器组(2)的输入端。