[发明专利]检测键合质量的红外透视成像装置及调节方法无效

专利信息
申请号: 200610114407.2 申请日: 2006-11-09
公开(公告)号: CN101178368A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: 何国荣;郑婉华;杨国华;石岩;渠红伟;宋国锋;陈良惠 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G01N21/95;H01L21/66
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100083北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 质量 红外 透视 成像 装置 调节 方法
【权利要求书】:

1.一种检测键合质量的红外透视成像装置,其特征在于,包括如下几个部分:

一灯箱,该灯箱为黑色,该灯箱前端开有一出光孔;

一导轨,该导轨位于灯箱上的出光孔的前端,在该导轨上依次排列有第一凸透镜、小孔光阑、第二凸透镜、样品架及红外摄像头;

一监视器,该监视器通过数据线与红外摄像头连接。

2.根据权利要求1所述的检测键合质量的红外透视成像装置,其特征在于:其中灯箱包括:一光源;一喇叭状灯罩,该反射灯罩位于该光源的一侧。

3.根据权利要求2所述的检测键合质量的红外透视成像装置,其特征在于:其中该光源为白炽灯。

4.根据权利要求1所述的检测键合质量的红外透视成像装置,其特征在于:其中小孔光阑的通光孔的孔径为1-2mm。

5.一种检测键合质量的红外透视成像装置的调节方法,其是采用权利要求1所述的成像装置,其特征在于,包括如下步骤:

步骤1:调节摄像头及监视器,使之形成成像状态;

步骤2:调节导轨上的依次排列的第一凸透镜、小孔光阑、第二凸透镜、样品架及红外摄像头,使之处于与灯箱上的出光孔相同高度。

步骤3:调节第一凸透镜和小孔光阑的位置,使清晰的灯丝图像穿过小孔光阑,然后调节第二凸透镜,使射出的圆形光斑打在样品架上的样品表面;

步骤4:最后调节摄像头与样品架上的样品之间的距离,使成像最清晰,成像结果可直接由监视器显示。

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