[发明专利]一种利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法及装置

权利要求书

1.一种利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法，包括一个采集织物样本图像的过程，其特征在于：所述的采集织物样本图像的过程中包括一个向织物样本投射红外激光的步骤、一个采集织物样本红外激光透射图像的步骤和一个在显示器件上显示织物样本红外激光透射图像的步骤。

2.如权利要求1所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法，其特征在于：在所述的向织物样本投射红外激光的步骤中，利用半导体激光器向织物样本的反面或正面投射红外激光，并在半导体激光器与织物样本的反面或正面之间的光路中设置聚光透镜，利用聚光透镜对红外激光进行会聚，在所述的采集织物样本红外激光透射图像的步骤中，在织物样本后侧的透射光方向上设置电子感光器件，利用所述的电子感光器件采集红外激光穿过织物样本后的图像信号，并在织物样本的后侧与电子感光器件之间设置物镜和摄影物镜，利用所述的物镜和摄影物镜对穿过织物样本的红外激光进行会聚。

3.如权利要求2所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法，其特征在于：在与所述的电子感光器件相连的显示器件上以灰度显示方式显示所采集的红外激光透射图像。

4.如权利要求1所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法，其特征在于：在所述的向织物样本投射红外激光的步骤中，采用808nm波长的激光或者980nm波长的激光进行投射。

5.一种实现如权利要求1所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的方法的装置，由一个半导体激光器和一个红外摄像装置构成，其特征在于：所述的半导体激光器和红外摄像装置分别固定设置在一个光路的两端，半导体激光器和红外摄像装置之间的光路中设置有一个织物样本支架，半导体激光器和织物样本支架之间的光路中设置有一个聚光透镜，织物样本支架和红外摄像装置之间的光路中设置有一个物镜，所述的红外摄像装置与一个显示器连接。

6.如权利要求5所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的装置，其特征在于：所述的红外摄像装置由一个电荷耦合器件面阵构成，所述的电荷耦合器件面阵的前方设置有一个摄影物镜。

7.如权利要求5所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的装置，其特征在于：所述的织物样本支架中设置有样本观察孔。

8.如权利要求5所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的装置，其特征在于：半导体激光器和红外摄像装置之间的光路的下方设置有距离调节装置，所述的聚光透镜、织物样本支架和物镜分别设置在所述的距离调节装置上。

9.如权利要求5所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的装置，其特征在于：所述的物镜是五倍物镜、或者十倍物镜、或者20倍物镜、或者40倍物镜、或者100倍物镜。

10.如权利要求5所述的利用红外激光检测纺织品结构及染色缺陷的装置，其特征在于：所述的红外摄像装置由数码照相机构成。