[发明专利]头位置控制方法、头位置控制装置及盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于通过补偿诸如偏心(eccentricity)的周期性扰动来控制头的位置，更具体地，涉及头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于实现高密度轨道间距以及对检查过程进行优化。

背景技术

在旋转的记录盘上读/写数据的盘装置(诸如磁盘装置或光盘装置)中，将头精确地定位到目标轨道(即所谓的“跟随”)对于提高记录密度极为重要。

另一方面，对于旋转的记录盘，诸如偏心的周期性扰动以及其他非周期性扰动会降低定位精度，因此，为了实现高密度轨道间距，需要提高定位精度。

图16是盘的头位置与定位精度的关系图。如图16中的POS(定位)精度(TRO：总移出(total run out))和盘的半径方向的关系图中所示，由于介质的移动，在盘的外侧，POS精度通常较高，即TRO较高，而在内侧POS精度较低，即TRO较低。因此，已经提出了在盘平面上使内侧的轨道间距与外侧的轨道间距不同(例如，日本特开2002-237142号和特开2003-016745号)。

然而，如图16中临界TPI(每英寸轨道数)与沿盘的半径方向的位置的关系图中的虚线C所示，如果TPI减小(即，在外侧，轨道间距增大)，则轨道宽度增大。因此，头的位置由于振动而移动，并且在写期间无法将旧数据转换为新数据。换言之，两个数据可能存在于同一LBA(逻辑块地址)中。因此，如粗体线A2所示，设置了改变数据的TPI下限。

另一方面，如图16中的虚线C所示，如果在内侧TPI增加(即，轨道间距减小)，则轨道间隔减小，并且当将数据写到轨道上时，相邻轨道上的数据会受到影响(例如，相邻轨道上的数据被擦掉)。因此，如粗体线A1所示，基于ATI(相邻轨道影响)抗耐性设置了TPI上限。

如图16中的实线B所示，还存在必须满足的TPI，作为所有区域的平均值(称为平均所需TPI)，因此如图16中的虚线所示，难以根据POS精度确定TPI。

图16中的关系图中的TRO是RRO(可重复移出)(其是周期性扰动)和NRRO(不可重复移出)(其是非周期性扰动)之和。已提出了用于改善该RRO的后置码(post code)技术(例如，日本特开平03-263662号和特开60-117461号)。

如图18所示，磁盘100的扇区包括伺服帧101和数据区102。伺服帧101还包括前导码110、伺服标记(SM)112、帧码114、格雷码(graycode)116和脉冲信号118。帧码114和格雷码116构成轨道号，脉冲信号118是四相脉冲(A/B/C/D)信号或两相脉冲(偶/奇)信号，以通过头输出来识别轨道内的位置。

通过减少伺服帧101的脉冲区118来分配后置码120。在将磁盘100安装到装置上之后，磁盘100旋转，测量各扇区的偏心(RRO)，并将偏心校正量写入后置码120中。当盘装置在工作时，读取伺服帧101，对脉冲信号118和后置码120进行解调，使用后置码120的偏心校正量来校正从脉冲信号118获取的当前位置，计算包括偏心的当前位置，并控制头位置以抵消偏心。

通过使用该后置码，图16中的POS精度(TRO)提高了RRO的量，并且如图17中的临界TPI和盘位置的关系图中的虚线C1所示，可以根据原始特性C来提高临界TPI，并且可实现高TPI。

发明内容

然而，作为用于提高POS精度的方法的后置码技术在装置制造商处的检查步骤中必须测量每个装置的盘的每个扇区的偏心，并将校正量写入每个扇区的后置码区域中。因此需要非常长的检查时间。例如，如果盘面上有10,000条轨道并且每条轨道中建立了20个扇区，则必须测量和写入200,000个后置码。因为TPI正在增加，所以不能再忽视该检查时间，并且当前需要在批量生产中进一步降低成本。

根据前面的考虑，本发明的目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于在实现高TPI的同时减少后置码的检查时间。

本发明的另一目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于即使在增加了轨道密度的情况下也可实现成本降低。

本发明的另一目的是提供一种头位置控制方法、头位置控制装置和盘装置，用于以考虑了数据格式的伺服帧占用比减少后置码的检查时间，同时实现高TPI。